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IGBT闩锁现象的解析模拟 被引量:1

Analytical Simulation of IGBT Latch up
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摘要 本文从IGBT发生闩锁的机理出发,推导出IGBT结构中两个寄生双极晶体管的共基极电流放大系数及NPN管基区横向电阻值随电流密度变化的解析模型,并据此对条形和矩形元胞结构的IGBT器件编制了闩锁电流分析计算程序,取得了与国外报道相一致的结果。 A one dimensional analytical model of the IGBT is proposed from the mechanism of the IGBT latchup. As a function of the current density, common base current gains of the two parasitic bipolar transistors, as well as the lateral resistor in the NPN transistor's base, are deduced. Based on this model,computer programs have been developed to accurately determine the latch up current density of IGBT's with stripe or rectangular cells.
出处 《微电子学与计算机》 EI CSCD 北大核心 1995年第6期52-56,共5页 Microelectronics & Computer
关键词 IGBT 双极性晶体管 闩锁 晶体管 解析模拟 IGBT, Latch up, Analytical simulation
  • 相关文献

参考文献1

  • 1张屏英,晶体管原理,1987年

同被引文献2

  • 1张立,吴爱国,李云德,王江,黄耀先,宋玉芹,闫晓春,张昌利,季凌云.GTO最大可关断能力识别[J].天津大学学报,1994,27(3):380-384. 被引量:1
  • 2张光华(译),半导体器件的数值分析,1985年,213页

引证文献1

二级引证文献4

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