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大规模集成电路动态老化测试台图形发生系统设计被引量：1

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摘要本文论述了大规模集成电路动态老化测试台COWWS—12000图形发生系统设计。系统采用了微机集中控制各路独立编程方式,具有结构简单、通用性强等特点。

作者王新中冉立新卜建明蔡晓恺曹骥

机构地区浙江大学信电系杭州可靠性设备厂

出处《微电子测试》 1995年第2期33-36,共4页

关键词 LSI 集成电路动态老化测试台图形发生系统

分类号 TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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微电子测试

1995年第2期

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