摘要
利用单片机实现高精度测频的原理及系统软硬件.
出处
《微型机与应用》
1995年第9期28-30,共3页
Microcomputer & Its Applications
参考文献1
-
1王树勋等.MCS-单片微型计算机原理与开发[M]机械工业出版社,1990.
同被引文献9
-
1余水宝.单片机在高精度测频中的应用[J].电子测量技术,1994,17(3):25-29. 被引量:6
-
2薛炳如.闸门时间修正法测频[J].电子测量技术,1995,18(1):32-36. 被引量:7
-
3王士元 吴之芳.IBM PC/XT接口技术及其应用[M].南开大学出版社,1990(6)..
-
4华中一.真空实验技术[M].上海:上海科学技术出版社,1986..
-
5Sakai J,Chen G R,Hirama K et al .Japanese Journal of Applied Physics, 1988,27(2) :319
-
6Kobayashi T, Sekiguchi A, Hosokawa N et al. Japanese Journal of Applied Physics,1988,27(9):1775
-
7钱芸生,富容国,徐登高,常本康.实时测量器件中光学薄膜厚度的新方法研究[J].真空科学与技术,1998,18(6):441-443. 被引量:1
-
8鲍芳,王春茹.新型单片机频率测量系统的研究[J].仪表技术与传感器,2001(2):33-35. 被引量:20
-
9张仕国,D.E.Brodie.控制真空镀膜蒸发速率的微处理机[J].真空电子技术,1992,5(5):30-34. 被引量:1
引证文献3
-
1魏立峰,刘晓梅.差分自校正测温系统设计[J].自动化与仪表,1999,14(1):14-15. 被引量:2
-
2范智勇,陈殿勇,莫晓亮,陈国荣.薄膜厚度的多探头计算机实时测控系统[J].真空科学与技术,2001,21(2):166-169. 被引量:3
-
3唐炜,顾金凤.基于微机的频率测量系统研究[J].计量与测试技术,2002,29(2):33-35.
二级引证文献5
-
1丁学恭,蔡海涛,何勇.宽幅薄膜高真空卷绕蒸发式镀膜机的研究与设计[J].农业工程学报,2007,23(8):145-149. 被引量:1
-
2魏立峰,郭娜,丁洪刚.石油沥青智能脆点测定仪的研究[J].化工自动化及仪表,2008,35(6):41-43.
-
3赵阳,范多旺,孔令刚,李彦哲.真空卷绕镀膜机开卷张力控制系统研究[J].真空科学与技术学报,2011,31(1):44-49. 被引量:3
-
4魏立峰,于海斌.多基准源实时自校正技术的研究[J].仪表技术与传感器,2002(12):26-28. 被引量:2
-
5范智勇,陈国荣,等.纳米尺度的Ag(TCNQ)薄膜的电特性[J].真空科学与技术,2002,22(B12):5-7.
-
1朱梓炎.高精度宽频域单片机测频仪[J].广东电子,1996(6):23-26.
-
2李名兆.单片机在等精度测频中的应用[J].自动化与仪表,1997,12(3):49-51. 被引量:1
-
3翁桂荣,岳岚.微机控制的高精度测频方法[J].电子测量技术,1993,16(4):19-21.
-
4朱梓炎.对“单片机控制的高精度测频仪”的补充[J].微型机与应用,1997,16(1):50-52.
-
5李汉军,姬国庆,杨士亮.一种简易的高精度测频方法[J].仪表技术,2001(3):20-21. 被引量:3
-
6何巨轮.多功能数字式测频仪[J].电工技术,1996(4):33-35.
-
7李一泉,何奔腾.一种基于傅氏算法的高精度测频方法[J].中国电机工程学报,2006,26(2):78-81. 被引量:44
-
8王淑青,吴作健.基于单片机高精度测频方法的研究[J].湖北工业大学学报,2005,20(4):35-37. 被引量:8
-
9史延龄,李汉军,史爱奎.多功能程控测试仪[J].电子技术应用,1995,21(6):22-23.
-
10谢文梁,朱星火.自校准高精度测频[J].电子测量技术,1995,18(1):48-53.