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平板局部平面度检定的研究

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摘要本文综述了各国平板局部平面度检定方法、成就与问题，指出该领域的检定发展方向。这对全面评价平板表面质量有指导意义。

作者张泰昌

机构地区北京市计量科学研究所

出处《实用测试技术》 1995年第4期15-19,共5页 Practical Measurement Technology

关键词平板平面度检定方法

分类号 TG832 [金属学及工艺—公差测量技术]

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实用测试技术

1995年第4期

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