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半导体激光剪切干涉仪
被引量:
3
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摘要
本文主要对半导体激光器在光栅剪切干涉计量中的应用作实验研究.给出半导体激光双频光栅剪切干涉仪测量光场相干性和透镜像差的实验结果.
作者
明海
李明
陈农
谢建平
机构地区
中国科学技术大学物理系
出处
《中国激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989年第9期571-573,共3页
Chinese Journal of Lasers
关键词
半导体
激光
干涉仪
剪切
分类号
TH744.3 [机械工程—光学工程]
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中国激光
1989年 第9期
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