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碳化硅防晕层导电机理的研究 被引量:3

Study on the Conduction Mechanism of SiC Corona Suppression Coating
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摘要 通过伏-安特性及其温度关系和电致发光的测量,提出了碳化硅粉末的导电机理是:在高电场下是隧道效应,在低电场下是空问电荷限制电流效应。碳化硅防晕层的导电机理与碳化硅粉末的一致,但由于粉末间有粘结剂,受热后膨胀使接触势垒加宽,出现防晕层的电流和非线性特性随温度上升而下降的现象。所提机理为合理控制碳化硅防晕层的非线性特性提供了理沦依据。 The conduction mechanism of silicon carbide(SiC) has been proposed. Under high electric field, it is due to the tunnelling effect, and under low electric field it is mainly the space-charge-limited current. For the SiC coating containing adhesive, the increase of the width of barrier between SiC particles due to thermal expansion would lead to the current passing through SiC coating decreases with temperature increasing. The theory proposed will be helpful to controlling the non linear para meters of the SiC Corona-suppression coating.
机构地区 西安交通大学
出处 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 1989年第3期60-63,42,共5页 Transactions of China Electrotechnical Society
关键词 碳化硅 防晕层 导电机理 电致发光 Conduction mechanism Electroluminescence
  • 相关文献

参考文献3

  • 1张辉,1987年
  • 2陈寿田,绝缘材料通讯,1983年,2期,11页
  • 3巫松桢,西安交通大学学报,1976年,10卷,1期,39页

同被引文献18

引证文献3

二级引证文献27

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