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铜钨(70)自力型触头的研制

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摘要 本文对CuW(80)/CrCu与CuW(70)/CrCu两种自力型触头界面结合强度作了比较。研究了不同W粉粒度对CuW(70)硬度、电阻率、抗弯强度及抗电弧烧损性能的影响。扫描电镜观察了触头烧损后的组织结构。阐述了电子束焊接方法的优点,探讨了焊后的检验手段。制造的CuW(70)/CrCu自力型触头装于ELF..SL2 ⅠⅡ断路器上,通过了全部开关试验。
出处 《华通技术》 1995年第2期13-18,共6页
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