摘要
文章叙述半导体二重符合反冲质子望远镜的调试和在14MeV中子源上与伴随粒子法的比对测量。
The paper describes the adjustment of a semiconductor double coincidencerecoil proton telescope and the intercomparison with associated particle method at14 MeV neutron source.
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989年第4期1-7,共7页
Atomic Energy Science and Technology
关键词
望远镜
反冲质子
硅
半导体
探测器
Double coincidence
Recoil proton telescope
Intercomparison
