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用单板机控制的晶体管参数综合测试系统

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摘要 为进行晶体管老化试验,对晶体管批量参数测试,采用运算速度快、功能多的单板计算机解决晶体管老化台的控制。文中介绍了接口电路、硬件、软件的设计。
作者 商周 王世军
出处 《电测与仪表》 北大核心 1989年第6期37-39,共3页 Electrical Measurement & Instrumentation
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