期刊文献⁺

任意字段

题名或关键词

题名

关键词

文摘

作者

第一作者

机构

刊名

分类号

参考文献

作者简介

基金资助

栏目信息

电子元器件的失效率

下载PDF

导出

摘要电子元器件的可靠性是人们最关心的问题,因为它直接影响整机的可靠性。表征电子元器件可靠性的最重要指标是电子元器件的失效率。电子元器件的失效率入(t)表示电子元器件工作到t时刻的条件下,单位时间内的失效概率。

作者翁寿松

机构地区无锡市元件四厂高工

出处《电子元件质量》 1995年第2期58-59,共2页

关键词电子元器件可靠性失效率

分类号 TN6 [电子电信—电路与系统]

引文网络
相关文献

1翁寿松.半导体器件失效率的讨论[J].半导体技术,1991,7(1):52-54. 被引量：3
2Sudo,H,李志国.光学半导体器件失效率的预测[J].电子产品可靠性与环境试验,1991(1):48-54. 被引量：1
3李树生,王东.电子元器件使用过程中的可靠性试验[J].电子质量,2005(11):33-35. 被引量：3
4赵丽荣.谈半导体分立器件的失效率[J].技术监督纵横,1994(2):21-23.
5李琳.使用环境对LED显示屏寿命的影响[J].现代显示,2006(6):56-58. 被引量：2
6丁小东.电子设备的热设计[J].四川通信技术,2000,30(3):46-48.
7季春茂.扬声器的可靠性[J].电声技术,1993,17(10):30-32.
8郑天丕.用威布尔分布求元器件失效率的探讨[J].机电元件,1992,12(2):34-38.
9李强,贾玉君.贝叶斯可靠性试验在电子系统中的应用[J].中国质量,1999(6):26-27. 被引量：1
10陈克明.大功率器件可靠性的验证[J].电子产品世界,1999,6(4):39-39.

电子元件质量

1995年第2期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...

;

使用帮助返回顶部