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中下地壳高导层成因研究综述 被引量:5

REVIEW OF THE MECHANISM OF THE HIGH CONDUCTION LAYERS IN MIDDLE TO LOWER CONTINENTAL CRUST
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摘要 大地电磁(MT)测量结果揭示中下地壳较普遍存在高导层。迄今对高导层的成因解释已有多种假说。本文总结了这一领域近十几年来的大量研究成果,对可能的高导机制,特别是含水流体假说、粒间相互连通的碳薄膜假说及剪切带假说等进行了评述,并指出不存在全球性的普遍适用的模式。 Magnetotelluric measurements show that high conduction layers occurs extensively in the middle to lower continental crust.This paper summarices a number of studies of conduction mechanism in the past decade,reviews the major hypotheses of conduction mechanism, including the saline pore fluids,the interconnected thin films of graphite, and the shear zone,and points out that the change of lithosphere and tectonism is important for conduction mechanism.
作者 徐义贤
出处 《地质科技情报》 CAS CSCD 北大核心 1995年第3期15-22,共8页 Geological Science and Technology Information
关键词 中下地壳 高导层 含水流体 碳薄膜 剪切带 成因 middle to lower continental crust,high conduction layer,saline fluids,thin film of graphite,shear zone
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