平面近场的微分抽样

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摘要一、引言用测量平面近场数据并对测得数据进行数值变换算出远场方向图的方法来求远场方向图的技术已运用多年了。过去在运用这种方法时,测试数据点通常取在矩形抽样栅格上,但矩形抽样也并不总是测量平面近场最有效的方法。随天线电尺寸的增加,测量近场所需抽样点数也随之增加;因此,为减少近场数据的采集时间,就有必要研究其他抽样方法。

作者 L.E.Corey D.R.O'Neil 林南枝

机构地区 Georgia Tech Research Institute

出处《现代雷达》 CSCD 1989年第6期76-78,83,共4页 Modern Radar

关键词天线平面近场微分抽样方向图

分类号 TN820.12 [电子电信—信息与通信工程]

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现代雷达

1989年第6期

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