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滤光片-XRD系统响应时间测量
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摘要
XRD系统具有响应时间快,便于作能量响应灵敏度绝对标定等优点。但是,以往限于条件,对XRD系统的时间响应特性还没有做过系统的研究,2003年,利用ps激光器对XRD系统的时间响应特性做了深入地研究。
作者
孙可煦
江少恩
易荣清
黄翼翔
崔延莉
李朝光
出处
《中国工程物理研究院科技年报》
2003年第1期94-95,共2页
Annual Report of China Academy of Engineering Physics
关键词
滤光片
XRD系统
响应时间
测量方法
ps激光器
核物理工程
分类号
TN249 [电子电信—物理电子学]
TL375.1 [核科学技术—核技术及应用]
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中国工程物理研究院科技年报
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