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TTL和CMOS数字集成电路的计算机检测

COMPUTER TESTS FOR TTL AND CMOS DIGIT INTEGRATED CTRCUITS

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摘要本文提出一种用微型计算机对TTL和CMOS数字集成电路进行检测的原理和方法,并简述了硬件和软件的某些设计技巧。

作者叶念渝何兆湘

机构地区华中理工大学自控系

出处《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1989年第5期21-24,共4页 Microelectronics & Computer

关键词集成电路计算机检测 CMOS TTL

分类号 TN432.07 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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微电子学与计算机

1989年第5期

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