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两片彩电电路测试包的研制

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摘要两片彩电电路的技术参数繁多,信号特殊、复杂,是有相当高测试难度的模拟集成电路。本文详细阐述了两片彩电电路测试包的研制方法,概括了测试包在硬、软件开发中的各种关键技术。

作者黎克濮德龙张岩

机构地区集成电路测试技术中心

出处《微电子测试》 1994年第4期22-26,16,共6页

关键词彩电两片彩电电路测试包

分类号 TN949.12 [电子电信—信号与信息处理]

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微电子测试

1994年第4期

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