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X射线薄膜衍射技术的进展及应用 被引量:1

Development and Application of X-ray Thin-Film Diffraction Technique
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摘要 本文介绍X射线薄膜衍射技术的进展及其在多晶薄膜材料研究中的一些应用。 The development of X-ray thin-film diffraction technique and its application in multi-crystal thin-film materials are presented in this paper.
作者 陈丽君
出处 《上海钢研》 1994年第1期45-52,共8页 Journal of Shanghai Iron and Steel Research
关键词 薄膜 X射线衍射 thin-film X- ray diffraction
  • 相关文献

参考文献1

  • 1陶琨,董志力,陈顺英,王并举.Seemann-Bohlin X射线薄膜衍射装置的强度分析[J]金属学报,1987(05).

同被引文献5

引证文献1

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