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应用于精密工程的宽范围原子力显微镜研究

Atomic Force Microscope of Wide Scanning Range Used in Precision Engineering
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摘要 本文描述了一种用于精密工程中超精密测量的宽范围原子力显微镜.当用管状扫描器工作时,测量范围可达2×2μm2,能获得原子级的分辨率.当用新开发的宽范围工作台扫描时,测量范围可为140×140μm2,分辨率可在1~100nm之间调节. The atomic force microscope of wide scanning range used in precision engineering ispresented.The atomic resolution of high oriented graphite can be obtained scanning with a tubescanner in the range of 2 ×2μm2. When a new developed elastic stage is used,the wide scanning range of 140 ×140μm2 can be reached,and the resolution of x,y directions can be adjustedin the range of 1~100nm .
机构地区 华中理工大学
出处 《湖北工学院学报》 1994年第3期1-6,共6页
基金 国家教委博士点基金
关键词 精密工程 原子力显微镜 超精密测量 Precision engineering Nanometer accuracy measurement Atomic force microscope Wide scanning range
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献2

  • 1白春礼,扫描隧道显微术及其应用,1992年
  • 2Yong R D,Phy Rev Lett,1971年,27卷,14期,922页

共引文献1

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