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第二代先进焦平面列阵需要精确测试

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摘要新的高性能焦平面列阵对表征其特性的测试设备提出了高要求。由于现代红外探测器列阵的灵敏度和空间分辨率已经提高,用来表征其特性的传统设备和方法已不能胜任。在测试第二代焦平面列阵时,

作者 STEVE MCHUGH 顾聚兴

机构地区美国圣巴巴拉红外公司

出处《红外》 CAS 1994年第3期13-17,共5页 Infrared

关键词红外探测器焦平面列阵测量

分类号 TN215 [电子电信—物理电子学]

引文网络
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红外

1994年第3期

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