会聚束电子衍射技术及其应用

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摘要介绍了用ＣＢＥＤ方法，测量晶体缺陷的几何参数、晶体的应变场及晶体取向关系。

作者张一民王青林鄢炎发

机构地区洛阳工学院

出处《材料开发与应用》 CAS 1994年第5期36-39,共4页 Development and Application of Materials

关键词 CBED方法缺陷应变场晶体取向关系

分类号 O766.1 [理学—晶体学] TG111.2 [金属学及工艺—物理冶金]

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1994年第5期

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