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稀土Er离子注入InP的退火及发光特性

Photoluminescence and Thermal Annealing of Rare-EarthElement Er Implanted InP
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摘要 利用离子注入法,以7×1014/cm2和1×1015/cm2的剂量对InP进行稀土元素Er的掺杂,采用了两种未加淀积膜覆盖的退火方式,在10K下均观测到InP中Er3+1.54μm特征光致发光峰.光致发光(PL)和反射式高能电子衍射给出发光强度和晶格恢复程度与退火条件的依赖关系,结果表明Er3+在InP中的光激活性在很大程度上取决于InP晶格的恢复. Abstract A Characteristic 1.54μm emission of rare-earth Er(3+) in the erbium implanted InP has been observed through 10K photoluminescence.The InP samples wereimplanted by Er with dosages of 7×10(14)/cm2 and 1×10(15)/cm2.They were thenannealed by two different kinds of thermal treatments without any passivation doposited-film on the surfaces. The effects of thermal annealing on Er(+3) emission intensity were investigated by photoluminescence(PL) at a temperature of 10K andreflective high-energy electron diffraction(RHEED). The results show that the optical activity of Er(3+)in the implanted InP is to a great degree dependent on the recovery of the implanted damage in InP.
机构地区 北京大学物理系
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第4期285-288,共4页 半导体学报(英文版)
基金 国家教委博士点基金 集成光电子学联合实验室资助 北京市中关村地区测试中心的资助
关键词 磷化铟 稀土元素 离子注入 发光 Annealing Electron diffraction Erbium Ion implantation Photoluminescence
  • 相关文献

参考文献2

  • 1曹望和,中国稀土学报,1991年,9卷,126页
  • 2Zhao Xinwei,Appl Phys Lett,1989年,54卷,712页

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