Symdrone可测试逻辑综合
参考文献5
-
1王芳雷,LSI制造与测试,1988年,2期
-
2王芳雷,计算机学报,1988年,5期
-
3王芳雷,计算机研究与发展,1988年,9期
-
4王芳雷,上海科技大学学报,1988年,2期
-
5闵应骅,逻辑电路测试,1986年
-
1双木.ASIC测试设计简述[J].电子测试,1998,11(4):28-28.
-
2李志方.EDA技术简介[J].电信交换,1998(1):45-47.
-
3杨晓雷.自动诊断技术:测试设计的自动化[J].杭州电子工业学院译丛,1990(2):65-70.
-
4刘建都.开路故障可测的CMOS电路实用设计方案[J].微电子测试,1992,6(4):24-28. 被引量:2
-
5陈传东.MAC控制器逻辑综合和可测性设计[J].福建电脑,2011,27(10):1-2.
-
6丰文义,严密昶,黄维康.抗熔丝型FPGA模块的常数可测矢量集的设计[J].微电子测试,1996,10(2):3-6.
-
7徐磊,孙义和.片上系统设计中可测性设计的完备性[J].国外电子测量技术,2001,20(3):27-28.
-
8明章健.基于平面近场测量系统的多波束测试设计[J].空军预警学院学报,2017,31(2):109-112. 被引量:3
-
9郝鹏.又见双向滑盖 夏普EM·ONE智能电话[J].移动信息,2007(4):137-137.
-
10周楠(翻译).GPS如何测定方位[J].科学世界,2012(2):80-81. 被引量:2
;