X射线荧光光谱法测定贵金属精矿中钌和铱

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摘要用XRF法测定贵金属一般都要经过预富集后才能进行测定.操作繁杂,给分析工作带来不便.本文提出一个以铝环一双层压片法制备样片,采用标准加入法直接测定贵金属精矿中钌和铱的X射线荧光光谱法.方法不需要制备标准样品、建立校正曲线和校正基体影响,分析结果与AAS和ICP-AES法相符,具有简单、快速、实用的特点.

作者喻德科

机构地区中国科学院兰州地质研究所

出处《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 1993年第5期61-62,共2页 Metallurgical Analysis

关键词贵金属精矿钌铱荧光分析

分类号 TF801.3 [冶金工程—有色金属冶金]

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冶金分析

1993年第5期

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