摘要
随着通讯和电子技术的发展,用于通讯接口的模拟芯片的采样频率也越来越高,测试难度也相应大大增加。ADVANTEST使用高速混合信号测试系统对其进行评价。本文以用于WLAN(802.11b)基带处理器芯片组的高速ADC及DAC为例,详细介绍了其具体测试过程,对具体测试时所用方法及所用部件WVFG/WVFD进行了说明。而WVFG/WFVD作为高速混合信号测试部件,其测试能力最高可达250MHz采样频率,解决了高速ADC/DAC测试(尤其是AC参数测试)的难题,完全可以满足当前高速混合信号芯片的测试。
出处
《集成电路应用》
2004年第10期72-76,共5页
Application of IC
