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全反射X射线荧光分析法测定微量硒 被引量:3

DETERMINATION OF TRACE ELEMENT Se BY TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS
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摘要 本文叙述了用全反射X荧光分析方法测定溶液中微量硒的实验装置、制样技术和测定方法。介绍了ng/mL级硒的测定结果,并对全反射X荧光分析技术中的一些问题进行了讨论。 The experimental instrument, sample preparation and determination method of the trace element Se in solution by total reflection X-ray fluorescence analysis are described in this paper. The analytical results of ng/mL level Se are presented. And some problems on total reflection X-ray fluorescence analysis techniqe are also discussed.
出处 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1993年第3期69-72,68,共5页 Spectroscopy and Spectral Analysis
基金 国家自然科学基金
关键词 全反射 X射线 荧光分析 Total reflection X-ray fluorescence analysis, Minimum detectable limit
  • 相关文献

参考文献1

  • 1范钦敏,光谱学与光谱分析,1991年,10卷,6期,64页

同被引文献130

引证文献3

二级引证文献3

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