摘要
科学地、准确地评价探井的生油潜力,是评价一个新探区含油远景的重要依据。目前国内对浅层位井干酪根的类型划分技术已相当完善,但此种方法对深层位及过成熟干酪根的类型无法划分。为此对深层位井及特殊井的生油做测定时存在着极大的困难,这也是目前一些油田急待解决的困难。利用透射电子显微技术(TEM)对干酪根尤其是深层位过成熟干酪根进行质量评价,既科学又准确。该技术的应用对石油能源的勘探及开发有着重要的意义。
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1993年第2期184-184,共1页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
