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高速CMOS的可靠性试验

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作者薛仁经陈三廷

出处《电子产品可靠性与环境试验》 1993年第1期38-44,共7页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关键词 CMOS电路可靠性试验集成电路

分类号 TN432.06 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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1苏成富.CMOS电路在使用中应注意的问题[J].家庭电子,1995(8):28-29.
2苏成富.用万用表判断常用CMOS电路[J].电工技术杂志,1995(1):35-36.
3胡斌.集成运算放大器及CMOS电路的检测[J].家电检修技术,2004(2):28-29.
4施良驹.CMOS特殊门电路[J].电子技术（上海）,1989,16(4):23-26.
5李学海.语音效果处理器HT8950及应用[J].家用电器,1998(11):36-37.
6李翠翠.电机控制器中的CMOS电路节能设计与实现[J].现代电子技术,2017,40(18):177-180. 被引量：5

电子产品可靠性与环境试验

1993年第1期

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