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嵌入式开发系统分析与评价

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摘要随着单片机与微处理器应用的飞速发展，各种类型的开发装置应运而生．除了可靠性指标以外，如何评价各类开发装置的性能优劣，从而作出最佳选择，成为设计师们最关心的问题。

作者唐铭新

机构地区北京三环电子有限公司

出处《电子产品世界》 1998年第10期73-73,46,共2页 Electronic Engineering & Product World

关键词嵌入式开发系统性能评价单片机仿真度实时性采样频率

分类号 TP368.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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1998年第10期

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