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现代X射线荧光分析在过程控制中的应用 被引量：2
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作者 S·乌利希 李金标 《国外金属矿选矿》 1999年第5期40-42,46,共4页
X射线荧光分析是用物理方法直接分析粉体或液体状态下元素周期表中几乎所有元素，不用任何稀释过程，X射线光谱分析仪可直接分析ppm（百万分之一）级非常小的含量到100％的非常高的含量。因此，X射线荧光分析是一种应用广泛的分析方法... X射线荧光分析是用物理方法直接分析粉体或液体状态下元素周期表中几乎所有元素，不用任何稀释过程，X射线光谱分析仪可直接分析ppm（百万分之一）级非常小的含量到100％的非常高的含量。因此，X射线荧光分析是一种应用广泛的分析方法，由于样品制备简单，分析速度快，分析灵活性强，很高的稳定性以及和自动化的高度结合，这种分析方法已被广泛接受，在矿物工业，工艺过程及质量控制的多元素分析领域已有大量用户。 展开更多
关键词 X射线荧光分析 过程控制 矿样 精矿
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