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Thermal-Mechanical Simulation and Analysis on Structural Caused Package Induced Stress in Stacked Chip Scale Package
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作者 钱峰 程秀兰 刘恩峰 《上海交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第S2期139-143,共5页
Stacked chip scale package(SCSP) attracts more and more attentions in advanced packages application with light weight,thin and small size,high reliability,low power and high storage capability.However,more and more ph... Stacked chip scale package(SCSP) attracts more and more attentions in advanced packages application with light weight,thin and small size,high reliability,low power and high storage capability.However,more and more physical and electrical issues being caused by package-induced stress in SCSP were reported recently.The effect of structural factors,including die thickness,die attach film thickness,die attach film type,and spacer size on package induced stress,was investigated.Analyses were given based on simulation results and provide important suggestion for package design. 展开更多
关键词 stack chip scale package(scsp) package induced stress STRUCTURAL FACTOR
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SCSP中芯片黏结层在焊接时的可靠性
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作者 何斌斌 国凤林 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2011年第8期59-62,共4页
提出了一个细观力学模型,该模型同时考虑了热膨胀和蒸汽膨胀对叠层芯片尺寸封装(SCSP)中芯片黏结层变形的影响。当初始温度确定时,由该模型可求得给定温度下芯片黏结层内部的蒸汽压力和孔隙率,从而判断芯片黏结层在焊接回流时的可靠性... 提出了一个细观力学模型,该模型同时考虑了热膨胀和蒸汽膨胀对叠层芯片尺寸封装(SCSP)中芯片黏结层变形的影响。当初始温度确定时,由该模型可求得给定温度下芯片黏结层内部的蒸汽压力和孔隙率,从而判断芯片黏结层在焊接回流时的可靠性。当温度从100℃升高到250℃时,芯片黏结层的饱和蒸汽压、等效弹性模量及孔隙率分别从0.10 MPa、925 MPa、0.030变到了3.98 MPa、10 MPa、0.037。分析表明:饱和蒸汽压和高温下弹性模量的降低,均易导致芯片黏结层材料失效。 展开更多
关键词 叠层芯片尺寸封装(scsp) 芯片黏结层(DAF) 可靠性
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叠层CSP封装工艺仿真中的有限元应力分析(英文) 被引量:2
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作者 刘彪 王明湘 林天辉 《电子工业专用设备》 2005年第11期49-54,共6页
叠层CSP封装已日益成为实现高密度、三维封装的重要方法。在叠层CSP封装工艺中,封装体将承受多次热载荷。因此,如果封装材料之间的热错配过大,在芯片封装完成之前,热应力就会引起芯片开裂和分层。详细地研究了一种典型四层芯片叠层CSP... 叠层CSP封装已日益成为实现高密度、三维封装的重要方法。在叠层CSP封装工艺中,封装体将承受多次热载荷。因此,如果封装材料之间的热错配过大,在芯片封装完成之前,热应力就会引起芯片开裂和分层。详细地研究了一种典型四层芯片叠层CSP封装产品的封装工艺流程对芯片开裂和分层问题的影响。采用有限元的方法分别分析了含有高温过程的主要封装工艺中产生的热应力对芯片开裂和分层问题的影响,这些封装工艺主要包括第一层芯片粘和剂固化、第二、三、四层芯片粘和剂固化和后成模固化。在模拟计算中发现:(1)比较三步工艺固化工艺对叠层CSP封装可靠性的影响,第二步固化工艺是最可能发生失效危险的;(2)经过第一、二步固化工艺,封装体中发现了明显的应力分布特点,而在第三步固化工艺中则不明显。 展开更多
关键词 热应力分析 叠层芯片尺寸封装 有限元分析 分布应力 工艺仿真
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