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Key Issues for Implementing Smart Polishing in Semiconductor Failure Analysis
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作者 Jacobus Leo Hao Tan +6 位作者 Yinzhe Ma Shreyas M. Parab Yamin Huang Dandan Wang Lei Zhu Jeffrey Lam Zhihong Mai 《Journal of Applied Mathematics and Physics》 2017年第9期1668-1677,共10页
“Industry 4.0” has become the future direction of manufacturing industry. To prepare for this upgrade, it is important to study the automation of semiconductor failure analysis. In this paper, the sample polishing a... “Industry 4.0” has become the future direction of manufacturing industry. To prepare for this upgrade, it is important to study the automation of semiconductor failure analysis. In this paper, the sample polishing activity was studied for upgrading to a smart polishing process. Two major issues were identified in implementing the smart polishing process: the optimization of current polishing recipes and the capability of making decisions based on live feedback. With the help of Solver add-in, the current polishing recipes were optimized. To make decisions based on live images captured during polishing, strategies were explored based on finger polishing process study. Our investigation showed that a grey scale line profile analysis on images can be used to build the vision capability of our smart polishing system, on which a decision- making capability can be developed. 展开更多
关键词 semiconductor process Optimization Failure ANALYSIS Image process GREY Scale line Profile ANALYSIS SMART POLISHING System
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半导体工艺线CAM及SPC的应用 被引量:2
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作者 李保第 刘福庆 +4 位作者 李彦伟 杨中月 胡玲 崔玉兴 付兴昌 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2010年第10期647-651,共5页
探讨了在多品种小批量半导体工艺生产线上开发应用CAM技术及实现SPC控制的方法。作者及同事开发了适用于所在工艺线特点的CAM软件系统程序——WI系统,用于工艺的指导和记录、生产的安排和监控以及数据的记录和提取。利用SPC方法对由WI... 探讨了在多品种小批量半导体工艺生产线上开发应用CAM技术及实现SPC控制的方法。作者及同事开发了适用于所在工艺线特点的CAM软件系统程序——WI系统,用于工艺的指导和记录、生产的安排和监控以及数据的记录和提取。利用SPC方法对由WI提取的数据进行统计分析处理,做出控制图,对各种工艺异常进行分析判断进而做出工艺调整,以实现有效的工艺监控,逐步提高工艺加工能力和稳定性。该生产控制方法的应用为工艺线产品的研制和生产提供了有力保证。 展开更多
关键词 半导体工艺线 计算机辅助制造(CAM) 统计过程控制(SPC) 工艺监控 工艺调整 控制图
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大功率半导体线激光图像处理方法研究 被引量:2
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作者 冯煦 张瑞瑛 +1 位作者 周萍 李松 《激光技术》 CAS CSCD 北大核心 2010年第5期624-627,共4页
为了研究适于大功率半导体线激光断面检测系统的图像分割方法,采用几种阈值分割算法对所采集的激光光刀图像进行了处理及分析。通过在室外晴好天气下搭建平台,模拟出线激光投射大视场物体的情形,并用CMOS相机采集一系列图片。针对采集... 为了研究适于大功率半导体线激光断面检测系统的图像分割方法,采用几种阈值分割算法对所采集的激光光刀图像进行了处理及分析。通过在室外晴好天气下搭建平台,模拟出线激光投射大视场物体的情形,并用CMOS相机采集一系列图片。针对采集图片用3种不同算法对光刀进行阈值分割,用灰度重心法提取光刀中心位置,并对各算法的优劣进行了比较分析。结果表明,局部最大类间方差法为最佳算法,且在综合考虑信噪比、待测物体特性和线激光自身特性等因素之后,提出该算法在大功率半导体线激光系统下具有一定适用条件。 展开更多
关键词 图像处理 最大类间方差法 阈值分割 大功率半导体线激光
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基于任务相匹配的半导体键合设备动态编组方法
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作者 高治军 彭佳玉 司雯 《沈阳建筑大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2020年第5期924-931,共8页
目的在半导体封装线上键合设备数量较大,传统的设备固定编组方法无法实现设备编组提供产能与加工任务需求产能动态匹配的现状下,提出一种基于加工任务相匹配的半导体键合设备动态编组方法,解决设备编组结果提供产能不足或提供产能冗余... 目的在半导体封装线上键合设备数量较大,传统的设备固定编组方法无法实现设备编组提供产能与加工任务需求产能动态匹配的现状下,提出一种基于加工任务相匹配的半导体键合设备动态编组方法,解决设备编组结果提供产能不足或提供产能冗余而造成资源浪费的问题.方法利用图论中的连接矩阵表示设备编组关系的拓扑结构,给出设备编组封闭位置约束及设备类型与产品类型匹配约束,设计设备编组偏差、吻合率、设备编组惩罚和等评价指标,建立设备编组模型.结果笔者对多组不同规模的数据进行仿真实验,通过数据对比,证明了所提出的键合设备动态编组方法在解决半导体封装线上键合设备编组问题的有效性.结论键合设备动态编组方法适用于半导体封装线上的键合工艺段,能够在一定程度上减少产能冗余,减少资源浪费. 展开更多
关键词 半导体封装线 动态匹配 需求产能 动态编组
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并行半导体生产线投料控制策略研究
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作者 李莉 于青云 《控制工程》 CSCD 北大核心 2020年第3期409-417,共9页
首先提出了一种基于主瓶颈设备利用率的并行半导体生产线投料控制策略(Release Control Policy Based on Bottleneck Equipment Utility,RCPBEU):分析投料与主瓶颈设备利用率之间的相关性;通过设定不同的仿真场景,确定主瓶颈设备利用率... 首先提出了一种基于主瓶颈设备利用率的并行半导体生产线投料控制策略(Release Control Policy Based on Bottleneck Equipment Utility,RCPBEU):分析投料与主瓶颈设备利用率之间的相关性;通过设定不同的仿真场景,确定主瓶颈设备利用率标准区间值,用于判断每卡待投料工件是否投进该生产线。随后,将瓶颈设备扩展到瓶颈加工区,提出了基于主加工区利用率的并行半导体生产线投料控制策略(Release Control Policy Based on Processing Area Utility,RCPPAU):采用试凑法确定主加工区利用率标准区间值;将主加工区与关系协同投料、主加工区或关系协同投料的方法在仿真系统上进行大量仿真。仿真结果表明,上述方法与固定在制品投料方法相比,出片量、加工周期、准时交货率、紧急工件准时交货率均能得到较大程度的改善。 展开更多
关键词 并行半导体生产线 投料控制策略 主瓶颈设备 主加工区
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半导体封装生产线工艺流程探讨 被引量:4
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作者 丁小宏 杨春梅 《无线互联科技》 2020年第19期71-72,共2页
伴随工业技术水平的不断提升,半导体封装生产工作越发先进与智能,而规范其生产线工艺流程,有助于其生产效率与质量的提高。文章分别从磨片、分片、装片、键合、塑封、去废边、电镀、打弯、激光打印与测试、包装、人工装箱等方面,探讨半... 伴随工业技术水平的不断提升,半导体封装生产工作越发先进与智能,而规范其生产线工艺流程,有助于其生产效率与质量的提高。文章分别从磨片、分片、装片、键合、塑封、去废边、电镀、打弯、激光打印与测试、包装、人工装箱等方面,探讨半导体后道封装的基本工艺流程,望能为此领域研究有所借鉴。 展开更多
关键词 封装生产线 半导体 工艺流程
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压板式高速镀银在引线框架中的应用 被引量:3
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作者 王超 陈亚龙 +1 位作者 陈明明 王一夫 《电镀与涂饰》 CAS CSCD 北大核心 2016年第9期475-480,共6页
介绍了引线框架用压板式高速镀银的基本原理、生产线结构和工艺流程,给出了典型的除油、酸洗、镀铜、预镀银、防置换、选择性镀银、退银、铜保护等工序的溶液配方及操作条件,指出了上料、下料等环节的注意事项,总结了常见高速镀银故障... 介绍了引线框架用压板式高速镀银的基本原理、生产线结构和工艺流程,给出了典型的除油、酸洗、镀铜、预镀银、防置换、选择性镀银、退银、铜保护等工序的溶液配方及操作条件,指出了上料、下料等环节的注意事项,总结了常见高速镀银故障的产生原因与处理方法。 展开更多
关键词 半导体 引线框架 高速镀银 生产线 工艺流程 故障处理
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