-
题名DRAM数据安全风险全流程评测技术体系研究
- 1
-
-
作者
宁永成
程民生
焦美荣
-
机构
中国航天宇航元器件工程中心
中国科学院上海技术物理研究所
-
出处
《电子质量》
2025年第12期53-57,共5页
-
文摘
动态随机存取存储器(DRAM)具有高集成度和快速访问能力,但其存储单元结构简单,电荷存储易受扰动或缺陷影响,可能导致数据误码甚至安全风险。基于电荷迁移加速原理,已衍生出行锤击和行挤压等攻击手段,严重时可导致系统瘫痪。深入分析了上述两种攻击的基本机理,并结合设计、硅片选型、流片工艺、测试及系统应用等全流程环节,提出加强数据安全风险评测技术的综合建议,以期为国产DRAM系列器件在航天型号中的高可靠应用奠定坚实技术基础,具有重要的工程实践价值。
-
关键词
动态随机存取存储器
安全风险
行锤击
行挤压
评测
-
Keywords
dynamic random access memory
security risk
rowpress
rowhammer
evaluation testing
-
分类号
TP309.2
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
-
