复合绝缘子的酥朽老化难以跟踪和预测,且会导致绝缘子断串,严重危害电力系统的安全运行。主流观点认为酥朽老化起源于护套—芯棒内界面失效,然而,在一起500kV线路绝缘子异常温升故障中,发现内界面基本完好。该文开展了现场故障绝缘子样...复合绝缘子的酥朽老化难以跟踪和预测,且会导致绝缘子断串,严重危害电力系统的安全运行。主流观点认为酥朽老化起源于护套—芯棒内界面失效,然而,在一起500kV线路绝缘子异常温升故障中,发现内界面基本完好。该文开展了现场故障绝缘子样品的泄漏电流、局部放电、水扩散、工业计算机断层扫描(computed tomography scan,CT)、扫描电子显微镜(scanning electron microscopy,SEM)、傅里叶变换红外光谱(Fourier transform infrared spectroscopy,FTIR)等测试,定位该绝缘子老化起始点位于伞裙—护套界面处的硅橡胶硫化缺陷,老化从伞裙根部向内侵蚀,扩散并穿透护套,造成护套—芯棒界面初步失效。若该绝缘子继续挂网运行,可能最终导致酥朽,该故障被判定为酥朽老化的早期表现。进一步研究发现,该批次绝缘子存在填料团聚、混料硫化不均、室温硫化硅橡胶(room temperature vulcanization,RTV)涂覆欠佳等缺陷,据此提出了制造改进建议。该文为绝缘子异常温升研究提供了详细案例分析,揭示了酥朽早期发展过程,有助于制造厂家和运行单位严控产品质量,预防恶性事故,保障电网安全运行。展开更多
文摘复合绝缘子的酥朽老化难以跟踪和预测,且会导致绝缘子断串,严重危害电力系统的安全运行。主流观点认为酥朽老化起源于护套—芯棒内界面失效,然而,在一起500kV线路绝缘子异常温升故障中,发现内界面基本完好。该文开展了现场故障绝缘子样品的泄漏电流、局部放电、水扩散、工业计算机断层扫描(computed tomography scan,CT)、扫描电子显微镜(scanning electron microscopy,SEM)、傅里叶变换红外光谱(Fourier transform infrared spectroscopy,FTIR)等测试,定位该绝缘子老化起始点位于伞裙—护套界面处的硅橡胶硫化缺陷,老化从伞裙根部向内侵蚀,扩散并穿透护套,造成护套—芯棒界面初步失效。若该绝缘子继续挂网运行,可能最终导致酥朽,该故障被判定为酥朽老化的早期表现。进一步研究发现,该批次绝缘子存在填料团聚、混料硫化不均、室温硫化硅橡胶(room temperature vulcanization,RTV)涂覆欠佳等缺陷,据此提出了制造改进建议。该文为绝缘子异常温升研究提供了详细案例分析,揭示了酥朽早期发展过程,有助于制造厂家和运行单位严控产品质量,预防恶性事故,保障电网安全运行。
