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新型清纱及质量控制装置—optlQS
1
作者 薛虹 《纺织导报》 CAS 1992年第6期37-38,共2页
瑞士Siegfried Peyer公司在ITMA’91展出了以光敏传感器为基础的范围扩展的计算机辅助清纱及质量控制装置——optIQS.该装置是在opti-CLASS装置基础上设计的,可对在线纱疵进行分类,并可自由选择清纱的限值.该装置的应用使用户在纱线测... 瑞士Siegfried Peyer公司在ITMA’91展出了以光敏传感器为基础的范围扩展的计算机辅助清纱及质量控制装置——optIQS.该装置是在opti-CLASS装置基础上设计的,可对在线纱疵进行分类,并可自由选择清纱的限值.该装置的应用使用户在纱线测试方面节省了成本. 展开更多
关键词 控制装置 optlqs 光敏传感器 纱疵 测试方面 装置基础 CLASS 清纱器 传感器探头 功能测试
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