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纳米尺度线宽的测量与Nano1国际关键比对 被引量：1
1
作者 褚巍 赵学增 +1 位作者 肖增文 王伟杰 《中国计量学院学报》 2003年第3期165-169,173,共6页
　现代集成电路制造业、数据存储工业和微机电系统等行业的不断发展,对纳米尺度线宽的测量提出了越来越高的要求.目前的一些测量方法分别存在各自的缺点与不足,在缺少更高准确度计量标准的情况下,往往采用比对的方法使计量结果趋于一致... 　现代集成电路制造业、数据存储工业和微机电系统等行业的不断发展,对纳米尺度线宽的测量提出了越来越高的要求.目前的一些测量方法分别存在各自的缺点与不足,在缺少更高准确度计量标准的情况下,往往采用比对的方法使计量结果趋于一致.国际计量局在1998年把纳米尺度线宽计量确定为纳米尺度基本特征国际关键比对项目之一.文章对它的主要研究内容以及进展情况作了介绍. 展开更多
关键词 纳米计量 线宽 Nanol CD测量 国际关键比对 集成电路 极限尺寸 数据存储器 微机电系统 显微镜
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