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Evolution of AuSnx intermetallic compounds in laser reflowed micro-solder joints 被引量:2
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作者 刘威 安荣 +3 位作者 王春青 田艳红 杨磊 孙立宁 《China Welding》 EI CAS 2011年第1期7-11,共5页
To investigate the effect of Au thickness on evolution of AuSnx IMCs, pads with 0. 1, 0. 5 and 4. 0 μm thickness of Au surface finish were utilized. Laser reflowed solder joints were aged in 125℃ isothermal ovens. R... To investigate the effect of Au thickness on evolution of AuSnx IMCs, pads with 0. 1, 0. 5 and 4. 0 μm thickness of Au surface finish were utilized. Laser reflowed solder joints were aged in 125℃ isothermal ovens. Results indicated that little IMC formed at the interface of solder and pad with 0. 1 μm thickness of Au. Even in condition of 744 hours aging, thickness of lMCs did not increase obviously. As for the joints with 0. 5 μm thickness of Au, most of AuSn4 IMCs stayed at the inteornce and were in needle-like or dendritic morphology. With the increase of aging time, AuSn4 IMCs beeame flat and changed to a continuous layer. In the joints with 4. 0 μm thickness of Au on pads, AuSn, AuSn2, AuSn4 IMCs and Au2Sn phase formed at the interface. As aging time was increased, more Sn rich IMCs formed at the interface, and evolved to AuSn4 IMCs in condition of long time aging. Thickness of AuSn4 IMCs reached about 30μm. 展开更多
关键词 AU AuSnx intermetallic compounds laser reflowed micro-solder joints
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电流应力下Sn/Cu微焊点组织与阴极失效
2
作者 赵文嘉 张柯柯 +3 位作者 张海洲 张彦振 刘柱 张超 《中国有色金属学报》 北大核心 2025年第8期2788-2802,共15页
采用扫描电镜通过准原位观察研究了由不同β-Sn晶粒取向组成的Sn/Cu微焊点电迁移组织与力学性能及失效模式。结果表明:在单晶Sn/Cu焊点中,当电流方向与β-Sn晶粒c轴的夹角θ≤47.26°时,阴极Cu_(6)Sn_(5)IMC层和Cu基体大量溶解,阳... 采用扫描电镜通过准原位观察研究了由不同β-Sn晶粒取向组成的Sn/Cu微焊点电迁移组织与力学性能及失效模式。结果表明:在单晶Sn/Cu焊点中,当电流方向与β-Sn晶粒c轴的夹角θ≤47.26°时,阴极Cu_(6)Sn_(5)IMC层和Cu基体大量溶解,阳极形成大尺寸Cu_(6)Sn_(5)IMC;而θ=78.12°的焊点,阴极Cu_(6)Sn_(5)IMC仅在Cu_(6)Sn_(5)晶界处少量溶解,阳极形成小尺寸Cu_(6)Sn_(5)IMC。θ角越小,阴、阳极界面IMC非对称生长趋势越明显。在多晶Sn/Cu焊点中,大θ角β-Sn晶粒阻碍Cu原子扩散导致Cu_(6)Sn_(5)IMC在β-Sn晶界处析出。电流应力加载96 h后,大θ角(60°~90°)焊点和小θ角(0°~30°)Sn/Cu焊点的平均剪切力由初始的18.6 N分别下降7.5%和36.2%,阴极Cu_(6)Sn_(5)IMC的溶解降低了界面结合强度是焊点阴极失效的主要原因。大θ角β-Sn晶粒的存在显著抑制了单晶Sn/Cu焊点阴极界面Cu_(6)Sn_(5)IMC的溶解,使得剪切断裂位置从阴极Cu_(6)Sn_(5)/Cu界面处向钎缝区移动,断裂机制也从呈解理刻面和撕裂棱为主的脆性断裂转变为呈均匀抛物线韧窝为主的韧性断裂。 展开更多
关键词 微焊点 晶粒取向 电迁移 微观组织 断裂机制
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Sn-Pb铜核微焊点液-固界面反应及力学性能研究
3
作者 丁钰罡 陈湜 +1 位作者 乔媛媛 赵宁 《电子与封装》 2025年第10期37-43,共7页
Cu核微焊点相比传统Sn基微焊点具有更好的导电、导热及力学性能,且可有效控制焊点高度。探究了Sn-Pb合金电沉积工艺,电镀制备出Cu@Sn-Pb、Cu@Ni@Sn-Pb 2种Cu核微焊球,进一步研究了微焊点在250℃下回流的液-固界面反应,并探究了微焊点的... Cu核微焊点相比传统Sn基微焊点具有更好的导电、导热及力学性能,且可有效控制焊点高度。探究了Sn-Pb合金电沉积工艺,电镀制备出Cu@Sn-Pb、Cu@Ni@Sn-Pb 2种Cu核微焊球,进一步研究了微焊点在250℃下回流的液-固界面反应,并探究了微焊点的剪切断裂机理。结果表明,Sn-Pb镀层成分受Pb^(2+)浓度、络合剂浓度、电流密度以及镀液温度等因素影响。镀液温度为25℃、电流密度为1~2 A/dm^(2)时电镀效果最佳。回流后,Cu/Cu@Sn-Pb/Cu微焊点中Sn-Pb/Cu核及Sn-Pb/Cu基板界面处均形成厚度相近的扇贝状Cu6Sn5及薄层状Cu3Sn界面金属间化合物(IMC);而Cu/Cu@Ni@Sn-Pb/Cu微焊点中Sn-Pb/Ni/Cu核及Sn-Pb/Cu基板界面上均形成扇贝状(Cu,Ni)6Sn5 IMC,由于Cu-Ni的交互作用,Cu3Sn IMC生长受到抑制,且Cu基板侧IMC层厚度明显大于Cu核侧。剪切测试结果表明,回流1 min时,Cu/Cu@Ni@Sn-Pb/Cu微焊点与Cu/Cu@Sn-Pb/Cu微焊点剪切强度分别为55.2 MPa和47.9 MPa,镀Ni层后焊点强度提高15.2%。 展开更多
关键词 电子封装 Sn-Pb钎料 Cu核微焊点 液-固界面反应 金属间化合物
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先进封装中铜柱微凸点互连技术研究进展
4
作者 张冉远 翁铭 +4 位作者 黄文俊 张昱 杨冠南 黄光汉 崔成强 《电子与封装》 2025年第5期110-121,共12页
超高密度互连、三维异构集成是当前微电子技术发展的趋势,铜柱微凸点作为先进封装互连的核心技术,提供了高性能、多样化的应用方案。讨论了焊料铜柱微凸点互连的原理、特性及挑战,详细阐述了瞬态液相互连技术及固态扩散互连技术的研究进... 超高密度互连、三维异构集成是当前微电子技术发展的趋势,铜柱微凸点作为先进封装互连的核心技术,提供了高性能、多样化的应用方案。讨论了焊料铜柱微凸点互连的原理、特性及挑战,详细阐述了瞬态液相互连技术及固态扩散互连技术的研究进展,概述了纳米材料修饰铜柱微凸点互连的不同方案,分析了各类材料的互连特性及性能。最后总结展望了铜柱微凸点互连技术未来的发展方向。 展开更多
关键词 先进封装 铜柱微凸点 焊料 纳米材料
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激光刻印阻焊技术在T/R组件上的研究与应用
5
作者 李嘉伟 刘迅 +2 位作者 贾海斌 郑家春 陈永碧 《现代雷达》 北大核心 2025年第6期104-108,共5页
针对收发(T/R)组件在软钎焊过程中,钎料在产品的镀金层壳体表面铺展的不可控现象,提出了一种激光刻印阻焊技术。该技术使用激光在产品壳体表面特定位置切割形成一条较窄的刻痕,破坏镀金层,从而实现阻断钎料漫溢的作用,同时利用产品材料... 针对收发(T/R)组件在软钎焊过程中,钎料在产品的镀金层壳体表面铺展的不可控现象,提出了一种激光刻印阻焊技术。该技术使用激光在产品壳体表面特定位置切割形成一条较窄的刻痕,破坏镀金层,从而实现阻断钎料漫溢的作用,同时利用产品材料不易被钎料润湿的特性,提升阻焊效果。首先,通过多次激光刻印实验,得到了T/R组件激光刻印的最佳参数;其次,通过高温和氧化实验,证明了激光刻印技术不会对刻印线边缘造成额外损伤;然后,通过阻焊实验,证明了激光刻印阻焊技术能够有效阻止钎料的漫溢,且不会对壳体的可焊性产生其他影响;最后,通过实际生产验证,证明了激光阻焊刻印技术再配合专门的定位工装,可以满足实际生产的焊料阻焊需求。 展开更多
关键词 收发组件 焊料漫溢 激光刻印 焊料阻焊技术 微组装技术
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Bi和Ni元素对Cu/SAC/Cu微焊点体钎料蠕变性能的影响 被引量:11
6
作者 孔祥霞 孙凤莲 +1 位作者 杨淼森 刘洋 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第2期53-60,共8页
借助纳米压痕试验方法,对Cu/SAC305/Cu,Cu/SAC0705/Cu和Cu/SAC0705BiNi/Cu微焊点体钎料在不同最大载荷下的压入蠕变性能进行比较,并分析和讨论Bi、Ni元素的添加对低银Cu/SAC0705/Cu微焊点体钎料蠕变性能的影响。试验采用一次加载-卸载方... 借助纳米压痕试验方法,对Cu/SAC305/Cu,Cu/SAC0705/Cu和Cu/SAC0705BiNi/Cu微焊点体钎料在不同最大载荷下的压入蠕变性能进行比较,并分析和讨论Bi、Ni元素的添加对低银Cu/SAC0705/Cu微焊点体钎料蠕变性能的影响。试验采用一次加载-卸载方式,加载时最大载荷分别为20mN、30mN、40mN和50mN,保载时间均为180s。采用FEISIRION扫描电子显微镜对微焊点体钎料在不同最大载荷下的压痕形貌进行观察。结果表明:在相同最大载荷和保载时间条件下,3种微焊点中Cu/SAC0705BiNi/Cu的蠕变深度和压痕尺寸均小于Cu/SAC305/Cu和Cu/SAC0705/Cu。在4种不同最大载荷下,与Cu/SAC0705/Cu微焊点体钎料相比,Cu/SAC0705BiNi/Cu微焊点体钎料的压入蠕变率分别降低了11.883%、16.059%、8.8157%和12.891%。Bi、Ni元素的添加,使Cu/SAC0705/Cu微焊点体钎料的蠕变应力指数提高了32.175%,有效提高了低银Cu/SAC0705/Cu微焊点体钎料的抗蠕变性能。 展开更多
关键词 微焊点 纳米压痕 蠕变应力指数 抗蠕变性能
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新型无铅焊料Sn-Ag-Cu-Cr-X的性能研究 被引量:15
7
作者 刘静 徐骏 +2 位作者 张富文 杨福宝 朱学新 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期625-630,共6页
传统的SnPb钎料由于Pb的毒性即将被禁止在微电子连接上使用,加上现在集成电路小型化、微型化以及高密度化的趋势;对所要开发的无铅钎料性能要求愈来愈高。以Sn-3.0Ag-0.5Cu钎料为母合金,添加了不同含量的合金元素Cr以及微量的合金元素Al... 传统的SnPb钎料由于Pb的毒性即将被禁止在微电子连接上使用,加上现在集成电路小型化、微型化以及高密度化的趋势;对所要开发的无铅钎料性能要求愈来愈高。以Sn-3.0Ag-0.5Cu钎料为母合金,添加了不同含量的合金元素Cr以及微量的合金元素Al或P,得到了一种新的Sn-3.0Ag-0.5Cu-Cr-P,测得熔点在217℃左右,抗拉强度达46 MPa,电导率在8.2(106S.m-1)以上,并具有很好的抗氧化性能。 展开更多
关键词 无铅钎料 微合金化 焊接性能 抗氧化性
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Sn-3.0Ag-0.5Cu/Ni/Cu微焊点剪切强度与断口的研究 被引量:8
8
作者 谷柏松 孟工戈 +2 位作者 孙凤莲 刘超 刘海明 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2013年第3期70-72,76,共4页
用直径为200-500μm的Sn-3.0Ag-0.5Cu无铅焊球分别在Ni和Cu焊盘上制作焊点,并对焊后和时效200h后的焊点进行剪切测试,并采用SEM观察剪切断口形貌。结果表明,焊后和时效200h后焊点接头的剪切强度都随焊球尺寸增大而减小。焊后断口... 用直径为200-500μm的Sn-3.0Ag-0.5Cu无铅焊球分别在Ni和Cu焊盘上制作焊点,并对焊后和时效200h后的焊点进行剪切测试,并采用SEM观察剪切断口形貌。结果表明,焊后和时效200h后焊点接头的剪切强度都随焊球尺寸增大而减小。焊后断口处韧窝形状为抛物线型,断裂方式为韧性断裂;随着焊球尺寸的增大,剪切断口处的韧窝数量增多,韧窝的变小变浅。时效200h后,韧窝变浅,趋于平坦,韧窝数量也明显减少,材料的韧性下降,脆性增加,断裂方式由韧性向脆性发生转变。 展开更多
关键词 Sn-3 0Ag-0 5Cu 无铅焊料 尺寸效应 剪切强度 微焊点 焊盘
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焊点高度对微尺度焊点力学行为的影响 被引量:13
9
作者 尹立孟 Michael Pecht +2 位作者 位松 耿燕飞 姚宗湘 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第8期27-30,34,共5页
采用精密动态力学分析仪研究了直径恒定为400μm、高度为125~325μm的无铅Sn-3.0Ag-0.5Cu"铜引线/钎料/铜引线"三明治结构微尺度焊点在100℃和25℃温度下的准静态拉伸与剪切力学行为以及断裂失效机制.结果表明,所有微尺度焊... 采用精密动态力学分析仪研究了直径恒定为400μm、高度为125~325μm的无铅Sn-3.0Ag-0.5Cu"铜引线/钎料/铜引线"三明治结构微尺度焊点在100℃和25℃温度下的准静态拉伸与剪切力学行为以及断裂失效机制.结果表明,所有微尺度焊点的拉伸和抗剪强度均随焊点高度的增大而减小;在相同的试验条件下,相同尺寸微尺度焊点的抗剪强度低于抗拉强度,同时剪切断裂应变小于拉伸断裂应变,表明电子封装互连微尺度焊点在剪切应力下的服役环境更为严峻.但是,在相同的加载速率下,相同尺寸微尺度焊点的拉伸强度与断裂应变均随温度的升高而减小. 展开更多
关键词 微尺度焊点 Sn-3 0Ag-0 5Cu 焊点高度 力学行为
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BGA焊球表面状态与微观结构关系的研究 被引量:4
10
作者 于洋 史耀武 +4 位作者 夏志东 雷永平 郭福 李晓延 陈树君 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第6期1092-1094,共3页
焊球是球栅阵列封装(BGA)的主要连接部件,电子产品自动化生产要求焊球具有良好的表面光亮度。用均匀射流断裂方法生产BGA焊球,研究焊球内部显微结构,从焊球的微观结构推测钎料液滴的凝固行为。通过对小球光滑和粗糙部位微观结构分析,总... 焊球是球栅阵列封装(BGA)的主要连接部件,电子产品自动化生产要求焊球具有良好的表面光亮度。用均匀射流断裂方法生产BGA焊球,研究焊球内部显微结构,从焊球的微观结构推测钎料液滴的凝固行为。通过对小球光滑和粗糙部位微观结构分析,总结小球表面粗糙部位显微组织的特征。最后研究少量稀土元素对小球表面状态的影响。 展开更多
关键词 微焊球 球栅阵列封装 固化行为
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Bi含量对Cu/Sn-0.3Ag-0.7Cu/Cu微焊点蠕变性能的影响 被引量:5
11
作者 姚宗湘 罗键 +3 位作者 尹立孟 王刚 蒋德平 夏文堂 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第12期2545-2551,共7页
采用光学显微镜、电子显微镜和动态力学分析等方法研究Bi含量对直径为400μm、高度为200μm的无铅Cu/Sn-0.3Ag-0.7Cu(SAC0307)/Cu微尺度焊点的显微组织及蠕变性能的影响。结果表明:当焊点中Bi含量较低(1%(质量分数))时,其基体组织细小,C... 采用光学显微镜、电子显微镜和动态力学分析等方法研究Bi含量对直径为400μm、高度为200μm的无铅Cu/Sn-0.3Ag-0.7Cu(SAC0307)/Cu微尺度焊点的显微组织及蠕变性能的影响。结果表明:当焊点中Bi含量较低(1%(质量分数))时,其基体组织细小,Cu_6Sn_5为粗大块状,Ag_3Sn分布不均匀;当焊点中Bi含量较多(3%(质量分数))时,基体组织与Cu_6Sn_5进一步细化,Ag_3Sn在细化的同时分布更均匀,界面扇贝状IMC层更平直。另外,温度为80~125℃、应力为8~15 MPa条件下,拉伸蠕变试验得到SAC0307微焊点的蠕变激活能(Q)和蠕变应力指数(n)分别为82.9 k J/mol和4.35;当钎料中Bi含量由1.0%增加到3.0%时,焊点的Q值从89.2 k J/mol增加到94.6 k J/mol,n值由4.48增加到4.73,钎焊接头的抗蠕变能力明显提高,所有焊点的蠕变变形机制主要受位错攀移控制。 展开更多
关键词 电子封装 低银无铅钎料 微焊点 蠕变 力学性能
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Sn-Cu系无铅钎料微合金化研究进展 被引量:9
12
作者 樊江磊 刘占云 +3 位作者 李育文 吴深 王霄 刘建秀 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第21期3774-3779,共6页
电子产品绿色化的需求促进了电子组装中钎料合金的无铅化发展。目前,Sn-Cu系钎料以优良的综合性能和较低的成本成为最具使用前景的无铅钎料之一。但是Sn-Cu系钎料的熔点较高,在Cu基上的铺展性和钎焊性也较Sn-Pb钎料差,这在很大程度上限... 电子产品绿色化的需求促进了电子组装中钎料合金的无铅化发展。目前,Sn-Cu系钎料以优良的综合性能和较低的成本成为最具使用前景的无铅钎料之一。但是Sn-Cu系钎料的熔点较高,在Cu基上的铺展性和钎焊性也较Sn-Pb钎料差,这在很大程度上限制了其应用。通过添加多种合金元素可改善Sn-Cu合金的微观组织和焊接性能。本文首先系统地综述了合金元素对Sn-Cu系无铅钎料微观组织、润湿性、力学性能等的影响,然后指出Sn-Cu系无铅钎料存在的问题。最后,对Sn-Cu系无铅钎料的发展方向和前景进行了展望。 展开更多
关键词 Sn-Cu合金 无铅钎料 微合金化 力学性能 焊接性能
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无铅微焊点的热效应仿真及可靠性分析 被引量:4
13
作者 胡家兴 景博 +2 位作者 汤巍 盛增津 孙超姣 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2016年第3期81-84,共4页
采用Anand模型描述无铅焊点(SAC305)的力学性能,运用有限元法模拟球栅阵列封装在温度循环载荷下的应力应变响应并对其进行分析,着重对关键焊点的应变能进行了讨论。结果表明,关键焊点的关键区域出现在焊点的上表面边缘处,为最容易出现... 采用Anand模型描述无铅焊点(SAC305)的力学性能,运用有限元法模拟球栅阵列封装在温度循环载荷下的应力应变响应并对其进行分析,着重对关键焊点的应变能进行了讨论。结果表明,关键焊点的关键区域出现在焊点的上表面边缘处,为最容易出现损坏的部位,并得到了实验的验证;在温度循环的过程中,升温阶段塑性应变产生速率远高于高温驻留阶段的塑性应变产生速率,极大地影响着焊点使用寿命。 展开更多
关键词 温度循环 无铅微焊点 应力 塑性应变 应变能 可靠性
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电子封装微互连中的电迁移 被引量:24
14
作者 尹立孟 张新平 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第8期1610-1614,共5页
随着电子产品不断向微型化和多功能化发展,电子封装微互连中的电迁移问题日益突出,已成为影响产品可靠性和耐久性的重要因素.本文在回顾铝、铜及其合金互连引线中电迁移问题的基础上,对目前微电子封装领域广泛采用的倒装芯片互连焊点结... 随着电子产品不断向微型化和多功能化发展,电子封装微互连中的电迁移问题日益突出,已成为影响产品可靠性和耐久性的重要因素.本文在回顾铝、铜及其合金互连引线中电迁移问题的基础上,对目前微电子封装领域广泛采用的倒装芯片互连焊点结构中电迁移问题的几个方面进行了阐述和评价,其中包括电流拥挤效应、焦耳热效应、极化效应、金属间化合物、多种负载交替或耦合作用下的电迁移以及电迁移寿命预测等. 展开更多
关键词 电子封装 微互连 焊点 可靠性 电迁移
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多场耦合时效对微焊点界面组织与性能的影响 被引量:4
15
作者 张春红 张宁 +2 位作者 高尚 张信永 赵伟 《金属热处理》 CAS CSCD 北大核心 2017年第3期165-169,共5页
模拟复杂环境中的热场、电场、磁场和力场四维场合,设计制作了多场耦合时效装置,研究了Cu/Sn58Bi-0.05Sm/Cu微焊点在25、50、100和200 h的多场耦合时效过程中,界面金属间化合物的微观组织变化和力学行为。结果表明:随着时效时间的延长,... 模拟复杂环境中的热场、电场、磁场和力场四维场合,设计制作了多场耦合时效装置,研究了Cu/Sn58Bi-0.05Sm/Cu微焊点在25、50、100和200 h的多场耦合时效过程中,界面金属间化合物的微观组织变化和力学行为。结果表明:随着时效时间的延长,焊点热端(阳极)的IMC层平整饱满,逐渐变厚,而冷端(阴极)呈现锯齿形,逐步变薄,出现大量的空位和空洞,并形成裂纹;焊点抗拉强度呈抛物线型下降,时效初期抗拉强度降速较大,之后降速逐渐减缓;拉伸断口逐步呈现小裂纹→单一大裂纹→多条大裂纹的现象,断裂机理为解理断裂,焊点的可靠性不断降低。 展开更多
关键词 多场耦合 高温时效 Cu/Sn58Bi-0.05Sm/Cu微焊点 组织 性能
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回流温度对Cu/Sn58Bi-0.06Sm/Cu微焊点组织和性能的影响 被引量:2
16
作者 张春红 张宁 +2 位作者 张欣 王世敏 黄巍 《热加工工艺》 CSCD 北大核心 2018年第24期230-233,共4页
采用回流焊工艺制备Cu/Sn58Bi-0.06Sm/Cu微焊点,研究不同的回流温度(200、220、240℃)对焊点的微观组织、力学性能和时效性能的影响。试验结果表明:随着回流温度的升高,钎料中富Bi相逐渐粗化且含量增多,焊点界面金属间化合物IMC层厚度... 采用回流焊工艺制备Cu/Sn58Bi-0.06Sm/Cu微焊点,研究不同的回流温度(200、220、240℃)对焊点的微观组织、力学性能和时效性能的影响。试验结果表明:随着回流温度的升高,钎料中富Bi相逐渐粗化且含量增多,焊点界面金属间化合物IMC层厚度逐步增大,钎料合金的显微硬度下降,界面IMC的硬度却提高,抗拉强度也降低。高温时效加速了钎缝界面两端Cu和Sn的相互扩散,加速了IMC层厚度的增长,且回流温度越高,时效后抗拉强度下降越明显。 展开更多
关键词 回流温度 微焊点 组织 性能
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微量元素对无铅钎料性能影响的研究现状与发展趋 被引量:13
17
作者 薛松柏 张亮 +2 位作者 皋利利 禹胜林 朱宏 《焊接》 北大核心 2009年第3期24-33,共10页
对国内外无铅钎料的研究与应用进行了综述,主要介绍了国内外研究者通过添加各种微量元素(特别是Ga,In,Ti,Mn,Co,Al以及各种稀土元素等)改善与提高无铅钎料的物理性能、钎焊性能的研究成果,同时简述了微量元素对无铅钎料显微组织的影响... 对国内外无铅钎料的研究与应用进行了综述,主要介绍了国内外研究者通过添加各种微量元素(特别是Ga,In,Ti,Mn,Co,Al以及各种稀土元素等)改善与提高无铅钎料的物理性能、钎焊性能的研究成果,同时简述了微量元素对无铅钎料显微组织的影响、无铅钎料在应用过程中出现的新问题以及解决方法,并对国内未来无铅钎料的发展趋势进行了分析与展望。 展开更多
关键词 无铅钎料 微量元素 发展趋势
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微焊点纳米压痕循环力学行为与承受载荷的关联性 被引量:3
18
作者 王丽凤 吕烨 +1 位作者 戴洪斌 张璞乐 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第10期75-78,117,共4页
通过对Sn-3.0Ag-0.5Cu/Cu和Sn-0.3Ag-0.7Cu/Cu微焊点进行循环加载—卸载方式的纳米压痕试验,研究了焊点循环力学行为与承受最大载荷的关联性.结果表明,循环F-h曲线在闭合前表现为1个迟滞回环,随着最大载荷的增加,焊点迟滞回环的面积和... 通过对Sn-3.0Ag-0.5Cu/Cu和Sn-0.3Ag-0.7Cu/Cu微焊点进行循环加载—卸载方式的纳米压痕试验,研究了焊点循环力学行为与承受最大载荷的关联性.结果表明,循环F-h曲线在闭合前表现为1个迟滞回环,随着最大载荷的增加,焊点迟滞回环的面积和残余压痕深度增大;当最大载荷一定时,迟滞回环的面积及残余压痕深度增量随着加载次数的增加逐渐减小;微焊点的压痕蠕变C随最大载荷的增大而不断降低,同时随加载次数的增加先急剧减小而后逐渐趋于平稳.Sn-3.0Ag-0.5Cu/Cu焊点的压痕蠕变低于Sn-0.3Ag-0.7Cu/Cu焊点的蠕变量. 展开更多
关键词 纳米压入法 微焊点 循环加载卸载 蠕变
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连续100W量子阱二极管激光器封装工艺 被引量:5
19
作者 高松信 雷军 +3 位作者 郭林辉 吕文强 武德勇 唐淳 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第11期2510-2512,共3页
为了提高激光器输出功率,对研制的铜微通道冷却器性能进行了测试,分析了其散热能力。设计了一种在软焊料中掺杂金属添加剂的工艺,有效抑制了晶须生长,并利用该冷却器和新工艺封装出了连续100W大功率二极管激光器,并对封装的器件进行了... 为了提高激光器输出功率,对研制的铜微通道冷却器性能进行了测试,分析了其散热能力。设计了一种在软焊料中掺杂金属添加剂的工艺,有效抑制了晶须生长,并利用该冷却器和新工艺封装出了连续100W大功率二极管激光器,并对封装的器件进行了性能测试。测试结果表明,封装的连续100W器件在工作电流105 A时,输出功率超过了100W,中心波长为808.5 nm,光谱半高宽为2.15 nm,器件的smile尺寸小于2μm,部分值小于0.5μm。 展开更多
关键词 二极管激光器 封装 smile效应 微通道冷却器 焊料
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超低银SnAgCu钎料微焊点力学性能 被引量:6
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作者 薛鹏 梁伟良 +4 位作者 王克鸿 何鹏 龙伟民 钟素娟 骆华明 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第12期29-32,共4页
研究了复合添加Ga/Nd元素对超低银Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料微焊点力学性能的影响.结果表明,复合添加适量Ga/Nd元素可以显著改善微焊点界面组织,抑制微焊点界面附近金属间化合物的生成,从而提高微焊点的力学性能,相比母合金微焊点剪切力提高... 研究了复合添加Ga/Nd元素对超低银Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料微焊点力学性能的影响.结果表明,复合添加适量Ga/Nd元素可以显著改善微焊点界面组织,抑制微焊点界面附近金属间化合物的生成,从而提高微焊点的力学性能,相比母合金微焊点剪切力提高幅度达到约16%;微焊点的力学性能随着时效时间的增加而降低,降低幅度优于未添加Ga/Nd的微焊点.Sn-0.3Ag-0.7Cu-0.5Ga-0.1Nd钎料微焊点的力学性能在时效处理后仍保持较好的水平,已接近Sn-3.8Ag-0.7Cu钎料微焊点的90%,具有良好的工业应用前景. 展开更多
关键词 无铅钎料 微焊点 力学性能 稀土元素
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