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题名基于通用异步收发器的高速SerDes测试
被引量：1
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作者
柏娜
朱非凡
许耀华
王翊
陈冬
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机构
安徽大学信息材料与智能感知安徽省实验室
安徽大学物联网频谱感知与测试工程技术研究中心
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出处
《电子与封装》
2023年第10期14-20,共7页
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文摘
提出了一种基于通用异步收发器(UART)的高速串行解串器(SerDes)的调试方法。由于SerDes在封装过程中管脚数量有限,难以把物理层(PHY)的测试点全部引出作为测试芯片的管脚。为了解决此问题,引入了UART模块作为PHY与外界通信的转换模块。针对待测的SerDes IP制定测试方案,此方案将UART等模块与待测IP级联,并通过UART模块将SerDes调试所需的配置参数传输到PHY的控制寄存器,从而在控制寄存器的控制下完成对PHY内部寄存器的读写操作。在1.25 Gbit/s、20 bit的工作模式下,完成对SerDes误码率的测试,实现了对SerDes芯片参数的动态调试,大大减少了测试复杂度和测试时间。
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关键词
串行解串器
通用异步收发器
环回功能
误码率
内建自测试
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Keywords
serial deserialiser
universal asynchronous transceiver
loopback function
bit error rate
built-in self-test
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于高速SerDes接口芯片的ATE测试板设计
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作者
王志立
王一伟
刘宏琨
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机构
无锡中微腾芯电子有限公司
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出处
《电子质量》
2023年第7期29-34,共6页
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文摘
随着通信技术的飞速发展,高速串行互连以其结构简单、不需要传输同步时钟和相比并行传输具有更高数据传输效率等优点而成为了现代通信和数据传输的重要组成部分。随着对数据传输速率要求的不断提高,串化器/解串器(SerDes)接口应运而生。作为高速串行通信的重要组成部分,对其芯片的研究和设计一直是一个热点。主要从基本原理和测试需求2个方面入手,研究分析了高速SerDes接口芯片的测试方案和ATE测试板设计方法。介绍了高速SerDes接口芯片的基本工作原理、回环功能测试和关键测试参数。并从叠层结构、走线规则和板材选取3个方向阐述了ATE测试板的设计方法。
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关键词
高速SerDes接口芯片
回环功能测试
自动测试设备测试板
印制电路板板材
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Keywords
high-speed SerDes interface chip
loopback function test
ATE test board
PCB materials
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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