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Testability Analysis at Switch Level for CMOS Circuits
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作者 沈理 《Journal of Computer Science & Technology》 SCIE EI CSCD 1990年第2期197-202,共6页
In this paper we propose a controllability and observability measure at switch level for CMOS circuits based on the cost analysis approach.The complexity of the algorithm is nearly linear.
关键词 NNI ES NODE Testability Analysis at switch Level for CMOS Circuits NPI ED EN DOWN DCG CMOS
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