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透射电镜中STEM成像技术的原理、分类及应用
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作者 张放 梁超伦 郭琳娜 《分析仪器》 2025年第5期95-103,共9页
近年来,透射电子显微技术取得了突飞猛进的发展,扫描透射技术(STEM)尤为瞩目。作为一种能够在原子尺度上实现材料微结构与精细化学组分表征分析的先进手段,STEM为从微观尺度理解材料宏观性能提供了关键依据。本文系统介绍并对比了透射... 近年来,透射电子显微技术取得了突飞猛进的发展,扫描透射技术(STEM)尤为瞩目。作为一种能够在原子尺度上实现材料微结构与精细化学组分表征分析的先进手段,STEM为从微观尺度理解材料宏观性能提供了关键依据。本文系统介绍并对比了透射电镜中几种典型的扫描透射成像技术,包括环形明场像(ABF)、环形暗场像(ADF)、积分差分相位衬度像(iDPC)及4D-STEM技术,深入解析其成像原理、技术特点及科学研究中的代表性应用案例,旨在帮助科研工作者更全面地理解STEM成像技术体系,并为其在各自学术与科研领域的应用提供参考。 展开更多
关键词 透射电镜 ABF-STEM ADF-STEM idpc-stem 4D-STEM
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