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电子元器件工艺控制技术探讨
1
作者
彭苏娥
《电子产品可靠性与环境试验》
2002年第6期32-36,共5页
介绍了进行电子元器件工艺控制时应满足的基本条件和主要步骤,并以电容器、集成电路为例,介 绍了如何通过分析关键工艺因素与产品主要失效模式的相关性,实施有针对性的工艺控制,以便在产品生产 过程中实施有效的工艺控制,稳定地提高产...
介绍了进行电子元器件工艺控制时应满足的基本条件和主要步骤,并以电容器、集成电路为例,介 绍了如何通过分析关键工艺因素与产品主要失效模式的相关性,实施有针对性的工艺控制,以便在产品生产 过程中实施有效的工艺控制,稳定地提高产品的质量和可靠性。
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关键词
电子元器件
工艺因素
失效分析
质量
可靠性
工艺控制
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职称材料
题名
电子元器件工艺控制技术探讨
1
作者
彭苏娥
机构
信息产业部电子第五研究所
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2002年第6期32-36,共5页
文摘
介绍了进行电子元器件工艺控制时应满足的基本条件和主要步骤,并以电容器、集成电路为例,介 绍了如何通过分析关键工艺因素与产品主要失效模式的相关性,实施有针对性的工艺控制,以便在产品生产 过程中实施有效的工艺控制,稳定地提高产品的质量和可靠性。
关键词
电子元器件
工艺因素
失效分析
质量
可靠性
工艺控制
Keywords
election
ic component
process
factor
failure analysis
quality
relialility
process
control
分类号
TN05 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
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1
电子元器件工艺控制技术探讨
彭苏娥
《电子产品可靠性与环境试验》
2002
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