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DRIE工艺误差对MEMS梳齿谐振器频率的影响 被引量:4
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作者 王强 高杨 +1 位作者 贾小慧 柏鹭 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2010年第12期776-780,共5页
针对深反应离子刻蚀(DRIE)工艺加工高深宽比梳齿电容存在侧壁倾斜角的情况,分析了该倾斜角对梳齿谐振器频率的影响。为了使设计的梳齿谐振器频率符合应用要求,推导出了梳齿谐振器在正负侧壁倾斜角θ下的谐振频率计算公式。利用ANSYS Wor... 针对深反应离子刻蚀(DRIE)工艺加工高深宽比梳齿电容存在侧壁倾斜角的情况,分析了该倾斜角对梳齿谐振器频率的影响。为了使设计的梳齿谐振器频率符合应用要求,推导出了梳齿谐振器在正负侧壁倾斜角θ下的谐振频率计算公式。利用ANSYS Workbench11.0平台,分别对侧壁倾斜角为0°,0.2°,0.35°和0.5°的情形进行了有限元建模与模态仿真。仿真结果表明:随着正倾斜角的增大,谐振频率减小;负倾斜角增大时,谐振频率增大,且一阶模态振形的平稳程度越差。比较数值仿真结果与考虑了正负倾斜角误差的梳齿谐振器谐振频率计算公式计算结果对比,吻合较好。 展开更多
关键词 微电子机械系统(MEMS) 梳齿谐振器 深反应离子刻蚀 高深宽比 倾斜角 谐振频率
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DRIE技术加工W波段行波管折叠波导慢波结构的研究 被引量:5
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作者 李含雁 冯进军 白国栋 《中国电子科学研究院学报》 2011年第4期427-431,共5页
简要介绍了利用深反应离子刻蚀制作折叠波导慢波结构的现状及制作的工艺流程。对深反应离子刻蚀掩膜制作即光刻工艺,以及折叠波导慢波结构的深刻加工进行了深入的研究。详细分析了各光刻工艺对光刻胶图形的影响,尤其是前烘对光刻胶图像... 简要介绍了利用深反应离子刻蚀制作折叠波导慢波结构的现状及制作的工艺流程。对深反应离子刻蚀掩膜制作即光刻工艺,以及折叠波导慢波结构的深刻加工进行了深入的研究。详细分析了各光刻工艺对光刻胶图形的影响,尤其是前烘对光刻胶图像侧壁垂直度的影响;在深反应离子刻蚀中,还详细分析了刻蚀时间、下电极功率以及刻蚀气体气压对刻蚀结果的影响。经参数优化后获得最佳工艺参数,并制作出带有电子注通道的W波段折叠波导慢波结构,慢波结构深为946μm,侧壁垂直度为91°,电子注通道深为225μm,侧壁垂直度为90°。 展开更多
关键词 折叠波导 微细加工 深反应离子刻蚀 光刻工艺
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基于DRIE的太赫兹行波管硅基低损耗慢波结构工艺技术研究
3
作者 吴杰 杨扬 +9 位作者 刘欣 严可 郑源 冯堃 王政焱 姜理利 黄旼 李忠辉 朱健 陈堂胜 《固体电子学研究与进展》 CAS 2024年第5期369-373,共5页
行波管慢波结构的制造通常采用计算机数字化控制精密机械加工技术。随着工作频率的提升,对慢波结构特征尺寸精度的要求达到微纳米级,导致加工难度大、周期长,成本高昂,一定程度上限制了技术的快速发展。硅基MEMS加工工艺具备优秀的三维... 行波管慢波结构的制造通常采用计算机数字化控制精密机械加工技术。随着工作频率的提升,对慢波结构特征尺寸精度的要求达到微纳米级,导致加工难度大、周期长,成本高昂,一定程度上限制了技术的快速发展。硅基MEMS加工工艺具备优秀的三维形貌可控性,尺寸控制精度高,批次一致性较好。本文针对太赫兹行波管功率源对双槽深折叠波导慢波结构的设计要求,开发了基于硅基底材料的三维集成工艺制造技术。采用光刻胶掩蔽结合介质掩蔽工艺方法,聚焦优化深反应离子刻蚀(Deep reactive ion etching,DRIE)中刻蚀钝化平衡参数,完成了电镀金和金金键合的完整工艺流程开发,实现了工作频率达0.65 THz、单位长度插入损耗低至1.6 dB/mm的高性能硅基太赫兹慢波结构150 mm晶圆级工艺制备,为太赫兹行波管的技术突破和应用发展建立了技术基础。 展开更多
关键词 太赫兹 慢波结构 低损耗 硅基 MEMS 深反应离子刻蚀(drie)
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A new DRIE cut-off material in SOG MEMS process
4
作者 Chaowei Si Yingchun Fu +4 位作者 Guowei Han Yongmei Zhao Jin Ning Zhenyu Wei Fuhua Yang 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2023年第4期98-102,共5页
The silicon on glasses process is a common preparation method of micro-electro-mechanical system inertial devices,which can realize the processing of thick silicon structures.This paper proposes that indium tin oxides... The silicon on glasses process is a common preparation method of micro-electro-mechanical system inertial devices,which can realize the processing of thick silicon structures.This paper proposes that indium tin oxides(ITO)film can serve as a deep silicon etching cut-off layer because ITO is less damaged under the attack of fluoride ions.ITO has good electrical conductivity and can absorb fluoride ions for silicon etching and reduce the reflection of fluoride ions,thus reducing the foot effect.The removal and release of ITO use an acidic solution,which does not damage the silicon structure.Therefore,the selection of the sacrificial layer has an excellent effect in maintaining the shape of the MEMS structure.This method is used in the preparation of MEMS accelerometers with a structure thickness of 100μm and a feature size of 4μm.The over-etching of the bottom of the silicon structure caused by the foot effect is negligible.The difference between the simulated value and the designed value of the device characteristic frequency is less than 5%.This indicates that ITO is an excellent deep silicon etch stopper material. 展开更多
关键词 SOG process drie cut-off layer ITO film foot effect
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硅DRIE刻蚀工艺模拟研究 被引量:4
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作者 朱福运 于民 +1 位作者 金玉丰 张海霞 《中国电子科学研究院学报》 2011年第1期28-30,35,共4页
随着现代科技的发展,人们对微系统的小型化、高性能、多功能、低功耗和低成本的要求越来越高,基于硅通孔技术技术的三维系统封装技术(3D SiP,three dimensional dystem in packaging)愈发显现出其重要的研究价值。硅通孔技术将集成电路... 随着现代科技的发展,人们对微系统的小型化、高性能、多功能、低功耗和低成本的要求越来越高,基于硅通孔技术技术的三维系统封装技术(3D SiP,three dimensional dystem in packaging)愈发显现出其重要的研究价值。硅通孔技术将集成电路垂直堆叠,在更小的面积上大幅地提升芯片性能并增加芯片功能。为帮助工艺人员更好地开展硅通孔技术工艺实验,开展了硅通孔技术关键工艺深反应离子刻蚀工艺模拟研究工作及开展这一工作所采用的物理模型和模拟方法,并将模拟结果与实验结果进行了对比。 展开更多
关键词 硅通孔技术 深反应离子刻蚀 工艺模拟
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微机械陀螺DRIE刻蚀过程中的局域掩膜效应 被引量:2
6
作者 冷悦 焦继伟 +3 位作者 张颖 顾佳烨 颜培力 宓斌玮 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第8期1070-1074,共5页
在微机电系统(MEMS)制造中,深反应离子刻蚀(DRIE)过程的精度是影响器件特性的重要因素之一。本文设计了一种完全对称弹性梁结构的模态匹配式陀螺的原型器件,以此为对象研究了局域掩膜图形对于DRIE刻蚀过程的影响。器件的测试结果表明驱... 在微机电系统(MEMS)制造中,深反应离子刻蚀(DRIE)过程的精度是影响器件特性的重要因素之一。本文设计了一种完全对称弹性梁结构的模态匹配式陀螺的原型器件,以此为对象研究了局域掩膜图形对于DRIE刻蚀过程的影响。器件的测试结果表明驱动和检测模态有明显的失配,该失配的发生原因除了气体阻尼,更主要来源于驱动和检测结构弹性梁尺寸的工艺偏差。在分析了实验过程及结果的基础上可以认为,除了典型的DRIE滞后效应等因素外,器件结构的局域掩膜效应加剧了工艺偏差:对称弹性梁结构周边的非对称掩膜图形导致了刻蚀气体分布的局部不均匀,增加了DRIE刻蚀的侧蚀偏差。 展开更多
关键词 MEMS陀螺 深反应离子刻蚀 非对称结构 局域掩膜效应 模态失配
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微桌面深硅刻蚀系统SF_(6)/O_(2)/C_(4)F_(8)三元气体刻蚀工艺研究
7
作者 刘钊成 连紫薇 +3 位作者 赵鸿滨 Parker Gould Mitchell Hsing 魏峰 《稀有金属》 北大核心 2025年第7期1113-1118,共6页
本文通过微桌面深硅刻蚀系统对非BOSCH三元气体刻蚀工艺进行了研究。对比了SF_(6)/O_(2), SF_(6)/C_(4)F_(8)和SF_(6)/O_(2)/C_(4)F_(8)三种刻蚀气体对于硅刻蚀中刻蚀速率、刻蚀轮廓、选择比以及粗糙度的影响,发展了基于SF_(6)/O_(2)/C_... 本文通过微桌面深硅刻蚀系统对非BOSCH三元气体刻蚀工艺进行了研究。对比了SF_(6)/O_(2), SF_(6)/C_(4)F_(8)和SF_(6)/O_(2)/C_(4)F_(8)三种刻蚀气体对于硅刻蚀中刻蚀速率、刻蚀轮廓、选择比以及粗糙度的影响,发展了基于SF_(6)/O_(2)/C_(4)F_(8)三元混合气体深硅刻蚀工艺。通过光学显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)、三维光学轮廓仪对刻蚀后硅沟槽的刻蚀深度、侧壁垂直度、选择比以及底面粗糙度进行了分析。结果表明,在SF_(6)中加入O_(2)有催化SF_(6)等离子体产生氟自由基的作用,同时又可以与硅反应生成Si_(x)O_(y)F_(z)聚合物沉积在硅沟槽侧壁阻止SF_(6)对侧壁的刻蚀,得到各向异性刻蚀,但是较低的选择比导致无法深刻。在SF_(6)中加入C_(4)F_(8)虽然解决了选择比与刻蚀轮廓的问题,但是刻蚀速率过低。而在室温下将少量C_(4)F_(8)加入SF_(6)/O_(2)中构成的SF_(6)/O_(2)/C_(4)F_(8)三元气体刻蚀工艺不仅能够提高刻蚀选择比、降低底面粗糙度,还能提高刻蚀速率。 展开更多
关键词 深硅刻蚀 SF_(6)/O_(2)/C_(4)F_(8)混合气体 各向异性 刻蚀速率 选择比
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磷化污染电泳槽液对漆膜固化和性能的影响及解决方案 被引量:1
8
作者 李双杰 凌晓飞 +2 位作者 李金伟 李山海 胡浩东 《涂料工业》 北大核心 2025年第2期14-18,共5页
为了研究磷化液污染电泳槽液对漆膜固化和性能的影响并提供解决方案,介绍了磷化液和电泳涂料的主要成分,阐述了电泳涂料的成膜原理和固化机理;通过实验模拟磷化液对电泳槽液的污染情况,并测定污染后电泳槽液的参数变化和电泳漆膜固化效... 为了研究磷化液污染电泳槽液对漆膜固化和性能的影响并提供解决方案,介绍了磷化液和电泳涂料的主要成分,阐述了电泳涂料的成膜原理和固化机理;通过实验模拟磷化液对电泳槽液的污染情况,并测定污染后电泳槽液的参数变化和电泳漆膜固化效果的变化;通过加入醋酸钇助剂的试验,模拟解决电泳槽液中的磷化污染。结果表明,磷化污染会导致含铋类电泳漆膜固化温度升高,加入醋酸钇可以有效降低槽液中的磷元素,实现对电泳槽液和漆膜品质的有效管控,提高电泳涂装工艺的稳定性和产品质量。 展开更多
关键词 电泳槽液 磷化污染 磷酸根 催干剂 烘烤温度 干燥 电泳涂料
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140GHz MEMS矩形波导滤波器 被引量:7
9
作者 赵兴海 单光存 +4 位作者 郑英彬 杜亦佳 陈颖慧 鲍景富 苏伟 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期165-169,共5页
设计并实现了一种采用微机械制造(MEMS)技术加工的D波段矩形波导膜片滤波器.采用有限元仿真软件HFSS分析了滤波器内腔镀膜厚度、粗糙度以及感性膜片厚度对滤波器主要性能的影响.采用MEMS深刻蚀工艺(DRIE)成功加工出了滤波器主体结构.通... 设计并实现了一种采用微机械制造(MEMS)技术加工的D波段矩形波导膜片滤波器.采用有限元仿真软件HFSS分析了滤波器内腔镀膜厚度、粗糙度以及感性膜片厚度对滤波器主要性能的影响.采用MEMS深刻蚀工艺(DRIE)成功加工出了滤波器主体结构.通过完成结构深刻蚀、金属电镀和键合等关键工艺,首次制造出了D波段MEMS波导滤波器.样品测试结果为插入损耗0.4~0.7 dB,中心频率(140±3)GHz,带外抑制为≥18 dB,样品主要技术指标与设计值符合. 展开更多
关键词 波导滤波器 太赫兹 drie
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用于3D封装的带TSV的超薄芯片新型制作方法 被引量:4
10
作者 袁娇娇 吕植成 +4 位作者 汪学方 师帅 吕亚平 张学斌 方靖 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2013年第2期118-123,128,共7页
提出了一种应用于3D封装的带有硅通孔(TSV)的超薄芯片的制作方法。具体方法为通过刻蚀对硅晶圆打孔和局部减薄,然后进行表面微加工,最后从硅晶圆上分离出超薄芯片。利用两种不同的工艺实现了TSV的制作和硅晶圆局部减薄,一种是利用深反... 提出了一种应用于3D封装的带有硅通孔(TSV)的超薄芯片的制作方法。具体方法为通过刻蚀对硅晶圆打孔和局部减薄,然后进行表面微加工,最后从硅晶圆上分离出超薄芯片。利用两种不同的工艺实现了TSV的制作和硅晶圆局部减薄,一种是利用深反应离子刻蚀(DRIE)依次打孔和背面减薄,另一种是先利用KOH溶液湿法腐蚀局部减薄,再利用DRIE刻蚀打孔。通过实验优化了KOH和异丙醇(IPA)的质量分数分别为40%和10%。这种方法的优点在于制作出的超薄芯片翘曲度相较于CMP减薄的小,而且两个表面都可以进行表面微加工,使集成度提高。利用这种方法已经在实验室制作出了厚50μm的带TSV的超薄芯片,表面粗糙度达到0.02μm,并无孔洞地电镀填满TSV,然后在两面都制作了凸点,在表面进行了光刻、溅射和剥离等表面微加工工艺。实验结果证实了该方法的可行性。 展开更多
关键词 3D集成 硅通孔(TSV) 减薄 深反应离子刻蚀(drie) 湿法腐蚀 电镀
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新型高量程冲击硅微机械加速度传感器的设计与制造 被引量:5
11
作者 董健 计时鸣 张立彬 《浙江工业大学学报》 CAS 北大核心 2009年第1期105-109,114,共6页
给出了一种测量高量程冲击加速度的硅微机械加速度传感器的设计和制造方法.加速度传感器采用整体式悬臂梁结构,在硅片平面内设计了两个分布方向相反结构相同的悬臂梁,每个悬臂梁顶端通过硼扩散形成两个压敏电阻,四个压敏电阻构成惠... 给出了一种测量高量程冲击加速度的硅微机械加速度传感器的设计和制造方法.加速度传感器采用整体式悬臂梁结构,在硅片平面内设计了两个分布方向相反结构相同的悬臂梁,每个悬臂梁顶端通过硼扩散形成两个压敏电阻,四个压敏电阻构成惠斯通全桥连接.悬臂梁两侧面和过载保护曲面采用DRIE技术加工,过载保护曲面设计成近似于冲击加速度传感器承受最大加速度时悬臂梁弯曲曲面的形状,一方面提高了悬臂梁过载保护能力,另一方面可以调节加速度传感器的工作阻尼至临界阻尼,有效提高了加速度传感器的工作频率带宽.分析和测试结果表明,加速度传感器的灵敏度达到3.024μV/g,工作频率带宽达到O~81kHz,量程达到0~50000g.加速度传感器的性能能够满足测号冲击过程的要求. 展开更多
关键词 冲击 硅微机械加速度传感器drie技术 过载保护曲面 工作频率带宽
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一种用于硅基MEMS加工的深刻蚀技术 被引量:6
12
作者 陈瑜 吴俊徐 +3 位作者 郭平生 王连卫 M.van der Zwan P.M.Sarro 《微细加工技术》 2005年第4期37-41,共5页
研究了光辅助电化学刻蚀技术,并特别研究了阵列和硅衬底之间的边缘效应。在阵列边缘由于电流分布不均匀以及空穴从孔的侧壁注入,因此可以在边缘区域观察到结构的坍塌,采用一个周期性变化的信号来调制光照的强度,边缘效应会得到一定的抑... 研究了光辅助电化学刻蚀技术,并特别研究了阵列和硅衬底之间的边缘效应。在阵列边缘由于电流分布不均匀以及空穴从孔的侧壁注入,因此可以在边缘区域观察到结构的坍塌,采用一个周期性变化的信号来调制光照的强度,边缘效应会得到一定的抑制。同时,也观察到了硅的电化学深刻蚀工艺中大电流情况下的抛光现象(阳极氧化条件下,硅表面在氢氟酸溶液中快速均匀溶解不形成孔的现象)。光学测试表明,制作的正方格子结构具有光子晶体行为,其光学禁带位于6μm附近。 展开更多
关键词 电化学刻蚀 drie 深沟槽 深孔 光子晶体
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微型泵的加工技术及应用 被引量:4
13
作者 陆峰 谢里阳 《流体机械》 CSCD 北大核心 2005年第6期29-34,共6页
微型泵是微流体系统中的重要执行元件,标志着微流体系统的发展水平。详细介绍了微型泵的种类、加工技术、应用前景以及国内在该领域的研究状况。
关键词 微流体系统 微型泵 驱动 流量 drie技术
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硅基MEMS环形波动陀螺谐振结构的研制 被引量:1
14
作者 寇志伟 刘俊 +2 位作者 曹慧亮 石云波 张英杰 《微纳电子技术》 北大核心 2018年第3期178-182,218,共6页
根据固体波动陀螺的工作机理与振动特性,提出并制作了一种新颖的电容式全对称硅基MEMS环形波动陀螺谐振结构。设计了全对称双U形弹性梁环形敏感结构并进行了动力学分析。分析结果表明其工作模态的谐振频率为10.193 0与10.198 0 kHz,频... 根据固体波动陀螺的工作机理与振动特性,提出并制作了一种新颖的电容式全对称硅基MEMS环形波动陀螺谐振结构。设计了全对称双U形弹性梁环形敏感结构并进行了动力学分析。分析结果表明其工作模态的谐振频率为10.193 0与10.198 0 kHz,频率差为5 Hz,表明该敏感结构在结构设计上具有高灵敏度。研究了基于深反应离子刻蚀(DRIE)与阳极键合技术的玻璃上硅(SOG)结构加工制造流程,并成功制作了该环形谐振结构。模态响应测试表明该硅基MEMS环形波动陀螺敏感结构的工作模态谐振频率为10.985 0和10.962 5 kHz,与动力学仿真分析结果的相对误差为7.21%,表明该陀螺谐振结构设计合理,加工工艺流程可行。 展开更多
关键词 微电子机械系统(MEMS) 环形波动陀螺 谐振结构 深反应离子刻蚀(drie) 玻璃上硅(SOG)结构
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基于切割成型的侧壁表面压阻制作及其参数优化
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作者 宋芳 王家畴 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2013年第2期182-186,共5页
为了提高MEMS执行器件对面内运动位移(或力学信号)检测的灵敏度并改善侧壁检测电阻制作工艺与其他工艺及其不同器件结构之间的兼容性问题,提出一种基于离子注入工艺和深度反应离子刻蚀(DRIE)工艺相结合制作检测梁侧壁压阻的方法。在此... 为了提高MEMS执行器件对面内运动位移(或力学信号)检测的灵敏度并改善侧壁检测电阻制作工艺与其他工艺及其不同器件结构之间的兼容性问题,提出一种基于离子注入工艺和深度反应离子刻蚀(DRIE)工艺相结合制作检测梁侧壁压阻的方法。在此基础上,详细分析了影响位移检测灵敏度和分辨率的各种因素,并对侧壁压阻的结构尺寸及其工艺参数进行优化。最后,给出了侧壁表面压阻在几种不同类型典型MEMS执行器件中的应用,取得了很好的应用效果。 展开更多
关键词 MEMS drie 侧壁表面压阻 位移检测 参数优化
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基于双面TSV互连技术的超厚硅转接板制备 被引量:5
16
作者 杨海博 戴风伟 +1 位作者 王启东 曹立强 《微纳电子技术》 北大核心 2019年第7期580-585,592,共7页
为了满足异质集成应用中对转接板机械性能方面的需求,提出了一种基于双面硅通孔(TSV)互连技术的超厚硅转接板的制备工艺方案。该方案采用Bosch工艺在转接板正面形成300μm深的TSV,通过结合保型性电镀工艺和底部填充电镀工艺进行TSV填充... 为了满足异质集成应用中对转接板机械性能方面的需求,提出了一种基于双面硅通孔(TSV)互连技术的超厚硅转接板的制备工艺方案。该方案采用Bosch工艺在转接板正面形成300μm深的TSV,通过结合保型性电镀工艺和底部填充电镀工艺进行TSV填充。在转接板背面工艺中首先通过光刻将双面TSV的重叠部分控制在一个理想的范围内,然后经深反应离子刻蚀(DRIE)工艺形成深度为20μm的TSV并完成绝缘层开窗,最后使用保型性电镀完成TSV互连。通过解决TSV刻蚀中侧壁形貌粗糙、TSV底部金属层过薄和光刻胶显影不洁等关键问题,最终得到了双面互连电阻约为20Ω、厚度约为323μm的硅转接板。 展开更多
关键词 转接板 异质集成 硅通孔(TSV) 先进封装 深反应离子刻蚀(drie) 保型性电镀
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太赫兹E面分支波导定向耦合器研究 被引量:2
17
作者 周扬帆 胡江 +1 位作者 张勇 刘双 《微波学报》 CSCD 北大核心 2014年第S1期540-542,共3页
本文基于微细加工技术中的深反应离子刻蚀(DRIE)技术设计了一款中心频率在0.355THz的E面3d B四分支矩形波导定向耦合器。利用奇偶模分析方法和级联理论分析方法进行分析,计算出了其在给定耦合度条件下各结构初值。使用Ansoft HFSS对四... 本文基于微细加工技术中的深反应离子刻蚀(DRIE)技术设计了一款中心频率在0.355THz的E面3d B四分支矩形波导定向耦合器。利用奇偶模分析方法和级联理论分析方法进行分析,计算出了其在给定耦合度条件下各结构初值。使用Ansoft HFSS对四分支波导定向耦合器进行仿真优化,结果表明该耦合器性能优异,在0.35-0.36THz频段内,隔离度优于40d B,各端口的回波损耗大于40d B,插入损耗小于0.2d B。本文所设计的分支波导定向耦合器结构简单紧凑、性能优越,具有广阔的应用前景。 展开更多
关键词 微加工技术 drie技术 太赫兹 分支波导定向耦合器 奇偶模分析方法
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深槽刻蚀侧壁平坦化技术 被引量:2
18
作者 於广军 杨彦涛 +3 位作者 闻永祥 李志栓 方佼 马志坚 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2016年第5期390-393,共4页
介绍了一种博世(Bosch)工艺深槽刻蚀后的侧壁平坦化技术。优化深槽刻蚀工艺参数使侧壁扇贝褶皱的尺寸降低至约52 nm,然后在1 100℃炉管中热氧化生长100 nm牺牲氧化层,再用HF酸漂洗工艺去除牺牲氧化层得到完全光滑的侧壁形貌。研究表明,... 介绍了一种博世(Bosch)工艺深槽刻蚀后的侧壁平坦化技术。优化深槽刻蚀工艺参数使侧壁扇贝褶皱的尺寸降低至约52 nm,然后在1 100℃炉管中热氧化生长100 nm牺牲氧化层,再用HF酸漂洗工艺去除牺牲氧化层得到完全光滑的侧壁形貌。研究表明,扇贝褶皱的底部沿<100>晶向氧化,而顶部沿<110>晶向氧化的矢量叠加方向。当热氧生长厚度较薄时,氧化行为倾向于线性氧化,由于线性氧化的速率常数强烈依赖晶向取向,因此氧化一定时间后,顶部的氧化深度与底部的氧化深度达到一致。基于上述氧化机制,Si/Si O2界面变得平滑陡直。 展开更多
关键词 深槽刻蚀(drie) 扇贝褶皱 博世工艺 线性氧化 光滑侧壁
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一种新结构硅微机械压阻加速度计 被引量:12
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作者 陈雪萌 李昕欣 +4 位作者 宋朝晖 王跃林 黄晖 黄树森 张鲲 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期500-503,共4页
设计、制造并测试了一种新结构硅微机械压阻加速度计。器件结构是悬臂梁-质量块结构的一种变形。比较硬的主悬臂梁提供了一定的机械强度,并且提供了高谐振频率。微梁很细,检测时微梁沿轴向直拉直压。力敏电阻就扩散在微梁上,质量块很小... 设计、制造并测试了一种新结构硅微机械压阻加速度计。器件结构是悬臂梁-质量块结构的一种变形。比较硬的主悬臂梁提供了一定的机械强度,并且提供了高谐振频率。微梁很细,检测时微梁沿轴向直拉直压。力敏电阻就扩散在微梁上,质量块很小的挠动就能在微梁上产生很大的应力,输出很大的信号。5 V条件下,灵敏度为14.80 mV/g,谐振频率为994Hz,分别是传统结构压阻加速度计的2.487倍和2.485倍。加速度计用普通的N型硅片制造,为了刻蚀高深宽比的结构,使用了深反应离子刻蚀(DRIE)工艺。 展开更多
关键词 微机械 加速度计 压阻 深反应离子刻蚀
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MEMS技术在THz无源器件中的应用 被引量:6
20
作者 赵兴海 鲍景富 +2 位作者 杜亦佳 高杨 郑英彬 《传感器与微系统》 CSCD 北大核心 2011年第7期5-9,共5页
太赫兹技术将在未来高精度频谱探测技术、高分辨率成像和高性能通讯等应用前景良好。太赫兹技术处于电子学与光子学领域的交叉领域,太赫兹器件的尺寸在数十微米到毫米量级,传统的机械加工技术很难达到加工精度要求,甚至无法加工。MEMS... 太赫兹技术将在未来高精度频谱探测技术、高分辨率成像和高性能通讯等应用前景良好。太赫兹技术处于电子学与光子学领域的交叉领域,太赫兹器件的尺寸在数十微米到毫米量级,传统的机械加工技术很难达到加工精度要求,甚至无法加工。MEMS技术在太赫兹器件的加工方面具有巨大的优势。总结了目前采用DR IE,LIGA等工艺加工太赫兹器件的研究现状,包括太赫兹传输波导器件、太赫兹传输线器件、慢波结构和特种复合结构的加工。分析了MEMS加工工艺的优缺点和在太赫兹器件加工中的应用前景。 展开更多
关键词 太赫兹器件 微机电系统 LIGA 深反应离子刻蚀
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