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光盘防刻死技术探究
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作者 唐贵平 孔凡志 《电声技术》 北大核心 2001年第11期52-54,共3页
指出了缓冲区欠载是光盘刻死的最主要原因,针对缓冲区欠载详细介绍了避免刻录失败的各种方法,并对BRUN-Proof技术和JustLink技术的基本原理进行了分析。
关键词 缓冲区欠载 Brun-Proof技术 JustLink技术 光盘防刻死技术 CD-R/RW 光驱
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