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反应溅射制备a-SiGe:H薄膜中亚稳态热缺陷的研究
1
作者
王印月
张仿清
陈光华
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990年第10期1661-1664,共4页
本文通过电导率σ(T)和异质结电容-电压关系(C-V)的测量,研究了反应溅射制备的a-SiGe:H薄膜中亚稳态热缺陷。
关键词
反应溅射
a-sige
:
h
薄膜
热缺陷
原文传递
题名
反应溅射制备a-SiGe:H薄膜中亚稳态热缺陷的研究
1
作者
王印月
张仿清
陈光华
机构
兰州大学物理系
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990年第10期1661-1664,共4页
文摘
本文通过电导率σ(T)和异质结电容-电压关系(C-V)的测量,研究了反应溅射制备的a-SiGe:H薄膜中亚稳态热缺陷。
关键词
反应溅射
a-sige
:
h
薄膜
热缺陷
分类号
O484.42 [理学—固体物理]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
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1
反应溅射制备a-SiGe:H薄膜中亚稳态热缺陷的研究
王印月
张仿清
陈光华
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990
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