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反应溅射制备a-SiGe:H薄膜中亚稳态热缺陷的研究
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作者 王印月 张仿清 陈光华 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1990年第10期1661-1664,共4页
本文通过电导率σ(T)和异质结电容-电压关系(C-V)的测量,研究了反应溅射制备的a-SiGe:H薄膜中亚稳态热缺陷。
关键词 反应溅射 a-sige:h 薄膜 热缺陷
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