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基于VSDP-XcitePI的片上耦合干扰的快速验证方法
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作者 陈钊 程亮 +2 位作者 林志强 庄哲民 刘欢艳 《电子技术应用》 2018年第8期13-16,共4页
介绍了一种基于VSDP-XcitePI提取片上电源模型并仿真分析片上耦合干扰的快速验证流程,使用XcitePI基于芯片版图对Die上金属层寄生快速准确地提取生成芯片级/宏模块级的RLCK模型/S参数模型,对一款高性能混合信号前端芯片进行数字-模拟间... 介绍了一种基于VSDP-XcitePI提取片上电源模型并仿真分析片上耦合干扰的快速验证流程,使用XcitePI基于芯片版图对Die上金属层寄生快速准确地提取生成芯片级/宏模块级的RLCK模型/S参数模型,对一款高性能混合信号前端芯片进行数字-模拟间干扰分析,将Die上电源网络及指定关键信号的金属层寄生模型带入全链路联合仿真,较好地复现了测试现象。所分析芯片面积为1.44 mm^2,分析精度达到支撑10μV级的变化量,分析带宽超过5 GHz。此外,介绍了VSDP平台对S参数模型的后处理方法,确保全链路仿真的收敛性和高效率。 展开更多
关键词 VSDP VIRTUOSO xcitepi 耦合干扰 全链路 联合仿真
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Cadence先进封装EDA工具高效赋能CoWoS-S硅中介层设计和签核
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作者 谷雨 徐兴隆 +5 位作者 陈恺立 刘华宝 孙晨 王海三 祁芮 徐国治 《中国集成电路》 2023年第10期76-82,共7页
随着摩尔定律的放缓,通过制程微缩来提高芯片性能越来越难,基于芯粒集成的先进封装方案的重要性随之日益显现。尤其是在一些高算力芯片产品的设计上,采用芯粒集成已逐渐成为设计者们一个绕不开的性能提高手段。在2.5D先进封装方案中,CoW... 随着摩尔定律的放缓,通过制程微缩来提高芯片性能越来越难,基于芯粒集成的先进封装方案的重要性随之日益显现。尤其是在一些高算力芯片产品的设计上,采用芯粒集成已逐渐成为设计者们一个绕不开的性能提高手段。在2.5D先进封装方案中,CoWoS-S(chip on wafer on substrate)封装因其高带宽、低延迟及丰富的成功量产案例而被广泛应用于片上系统芯片(SoC-system on chip)与高带宽内存(HBM-high bandwidth memory)的互连。然而,在CoWoS-S技术的硅中介层设计过程中,设计人员将面临严苛的信号完整性与电源完整性的综合挑战。为了解决这些挑战,Cadence作为EDA领域的创新者和领导者,开发了完整的EDA解决方案,以协助设计人员完成硅中介层的设计及签核任务。本文将介绍如何利用Cadence EDA解决方案来高效率地实现CoWoS-S硅中介层的设计与签核,内容聚焦于大电流区域的电源完整性设计以及HBM互连区域的信号完整性设计。 展开更多
关键词 CoWoS-S 硅中介层 深沟电容 HBM Integrity 3D-IC平台 xcitepi Extraction CLARITY Optimality Explorer
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