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单晶La_(0.2)Ce_(0.8)B_(6)的制备、表征及热发射性能研究 被引量:2
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作者 包黎红 陶如玉 特古斯 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第4期4094-4097,4101,共5页
采用区域熔炼法制备了大尺寸、高质量多元稀土六硼化物La_(0.2)Ce_(0.8)B_(6)单晶体。结合X射线劳埃定向法对(110)和(310)晶面进行了定向,并系统研究了热发射性能。结果表明,当阴极温度为1673,1773和1873K时(110)和(310)晶面最大电流密... 采用区域熔炼法制备了大尺寸、高质量多元稀土六硼化物La_(0.2)Ce_(0.8)B_(6)单晶体。结合X射线劳埃定向法对(110)和(310)晶面进行了定向,并系统研究了热发射性能。结果表明,当阴极温度为1673,1773和1873K时(110)和(310)晶面最大电流密度分别为3.60,7.73,12.44A/cm^(2)和3.25,11.67,16.93A/cm^(2)。表明晶面间发射性能存在"各向异性"的特点。不同发射温度下的(110)和(310)晶面平均有效逸出功分别为2.85和2.80eV,表明单晶La_(0.2)Ce_(0.8)B_(6)具有良好的热发射性能。 展开更多
关键词 单晶La_(0.2)Ce_(0.8)B_(6) 逸出功 热发射
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典型二元单晶REB_(6)的电子结构和发射性能
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作者 刘洪亮 郭志迎 +4 位作者 袁晓峰 高倩倩 段欣雨 张忻 张久兴 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2022年第9期349-355,共7页
二元单晶稀土六硼化物(REB_(6))具有丰富的物理性质,其中单晶LaB_(6)具有优异的电子发射特性,影响二元REB_(6)发射性能的物理机理及其他二元REB_(6)是否具有良好的发射特性,需要进一步研究.本文采用基于密度泛函理论的第一性原理计算对... 二元单晶稀土六硼化物(REB_(6))具有丰富的物理性质,其中单晶LaB_(6)具有优异的电子发射特性,影响二元REB_(6)发射性能的物理机理及其他二元REB_(6)是否具有良好的发射特性,需要进一步研究.本文采用基于密度泛函理论的第一性原理计算对典型二元单晶REB_(6)(RE=La,Ce,Pr,Nd,Sm,Gd)的电子结构、功函数进行了理论分析,并对区熔法制备的高质量单晶REB_(6)的热发射性能进行了测试.电子结构计算结果表明,二元REB_(6)费米能级附近具有很高的态密度,宽域分布的稀土元素的d电子决定了REB_(6)优异发射性能的电子态,局域分布的f轨道对发射性能不利.功函数理论计算表明具有d态价电子的二元REB_(6)(RE=La,Ce,Gd)具有较低功函数.热发射测试结果表明,以上单晶REB_(6)(100)晶面功函数热发射测试值与理论计算值基本相符.最终理论计算结合实验结果表明,LaB_(6)和CeB_(6)具有良好的热发射和场发射性能,GdB_(6)具有良好的场发射性能. 展开更多
关键词 单晶REB_(6) 第一性原理 功函数 热发射性能
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计算机控制的探孔场发射显微镜系统
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作者 巩运明 曾海山 张恩虬 《电子科学学刊》 CSCD 1991年第4期398-403,共6页
由Apple Ⅱ微机控制的探孔场发射显微镜系统已研制成功,并可用其测量单个晶面的逸出功。被探测微区的探孔电流由探测荧光屏,光电倍增管和电流放大器的联合体进行测量。观察屏电压(阳极电压)由D/A转换器调节。场发射体总电流和探孔电流... 由Apple Ⅱ微机控制的探孔场发射显微镜系统已研制成功,并可用其测量单个晶面的逸出功。被探测微区的探孔电流由探测荧光屏,光电倍增管和电流放大器的联合体进行测量。观察屏电压(阳极电压)由D/A转换器调节。场发射体总电流和探孔电流数据由A/D转换器采集。测量系统校准后,用BASIC语言编写的程序处理所测得的数据和计算Fowler-Nordheim图参数,从而得到被测的单个晶面的逸出功。用此系统已测得清洁的W(100)和W(111)面逸出功分别为4.67eV和4.45eV。 展开更多
关键词 场发射显微镜 计算机控制 显微镜
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PROBE-HOLE FIELD EMISSION MICROSCOPE SYSTEM CONTROLLED BY COMPUTER
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作者 巩运明 曾海山 张恩虬 《Journal of Electronics(China)》 1992年第1期69-75,共7页
A probe-hole field emission microscope system,controlled by the Apple Ⅱ computer,has been developed and operated successfully for measuring the work function of a single crystalplane.The detection screen,the phototub... A probe-hole field emission microscope system,controlled by the Apple Ⅱ computer,has been developed and operated successfully for measuring the work function of a single crystalplane.The detection screen,the phototube and the amplifier are combined for measuring theprobe-hole current.The combination is calibrated and the calibrated data are used in the com-puter program.The high voltage on the viewing screen is adjusted by using a D/A converter.The total current and the probe-hole current are acquired by using an A/D converter.A programin BASIC is used for processing all data and the Fowler-Nordheim plot parameters are given.Work functions of single crystal planes can then be calculated;as examples,the work functionson the clean W(100)and W(111)planes are measured to be 4.67 eV and 4.45 eV,respectively. 展开更多
关键词 Probe-hole field emission MICROSCOPE COMPUTER control work function of single crystal plane
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