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Chiplet接口IP 3DIC混合信号仿真验证
被引量:
2
1
作者
龙志军
郝颖丽
+1 位作者
丁学伟
欧阳可青
《中国集成电路》
2022年第8期55-62,共8页
随着半导体工艺节点向7nm、5nm、甚至3nm等先进工艺演进,大芯片的成本在不断增加,这意味着用先进的工艺节点制造大型SOC芯片正在削弱其经济效益。为了突破这一瓶颈,Chiplet架构应运而生并进入了快速发展期。接口IP与3D封装做为其关键技...
随着半导体工艺节点向7nm、5nm、甚至3nm等先进工艺演进,大芯片的成本在不断增加,这意味着用先进的工艺节点制造大型SOC芯片正在削弱其经济效益。为了突破这一瓶颈,Chiplet架构应运而生并进入了快速发展期。接口IP与3D封装做为其关键技术,如何保证通过3D封装互联的各接口IP通讯的可靠性成为设计首要考虑因素。本文首先阐述了Chiplet多die互联设计以及顶层验证面临的挑战,接下来详细说明如何使用VCS AMS混合仿真工具来解决当前验证的瓶颈和提升设计效率。
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关键词
Chiplet
3DIC
先进工艺
vcs
ams
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职称材料
题名
Chiplet接口IP 3DIC混合信号仿真验证
被引量:
2
1
作者
龙志军
郝颖丽
丁学伟
欧阳可青
机构
移动网络和移动多媒体技术国家重点实验室
出处
《中国集成电路》
2022年第8期55-62,共8页
文摘
随着半导体工艺节点向7nm、5nm、甚至3nm等先进工艺演进,大芯片的成本在不断增加,这意味着用先进的工艺节点制造大型SOC芯片正在削弱其经济效益。为了突破这一瓶颈,Chiplet架构应运而生并进入了快速发展期。接口IP与3D封装做为其关键技术,如何保证通过3D封装互联的各接口IP通讯的可靠性成为设计首要考虑因素。本文首先阐述了Chiplet多die互联设计以及顶层验证面临的挑战,接下来详细说明如何使用VCS AMS混合仿真工具来解决当前验证的瓶颈和提升设计效率。
关键词
Chiplet
3DIC
先进工艺
vcs
ams
Keywords
Chiplet
3DIC
Advanced Process
vcs ams
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Chiplet接口IP 3DIC混合信号仿真验证
龙志军
郝颖丽
丁学伟
欧阳可青
《中国集成电路》
2022
2
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