R-DSP(Radar Digital Signal Processor)芯片中BSU(Branch Shift Unit)运算部件具有较大的设计规模和复杂度,传统Verilog验证平台难以满足其验证需求问题。针对该问题,文中采用UVM(Universal Verification Methodology)方法对BSU运算部...R-DSP(Radar Digital Signal Processor)芯片中BSU(Branch Shift Unit)运算部件具有较大的设计规模和复杂度,传统Verilog验证平台难以满足其验证需求问题。针对该问题,文中采用UVM(Universal Verification Methodology)方法对BSU运算部件进行功能验证。搭建基于SystemVerilog语言实现的UVM验证平台,使用定向测试和带约束的随机测试进行验证,并采用覆盖率驱动的方法指导测试用例的生成,以充分覆盖BSU运算部件的各个功能和代码路径。经过多轮测试激励验证,代码覆盖率接近100%,完成了对BSU运算部件的功能验证。所提方法为R-DSP芯片中的ALU(Arithmetic Logic Unit)、AGU(Address Generation Unit)、MU(Multiplication Unit)等运算部件的验证工作提供了参考和借鉴。展开更多
如今芯片的功能日渐增多且愈发难以理解,运用仿真器的波形去验证设计变得越来越困难,为了缩短简化验证时间,需要提供一个标准化的验证平台。因为电阻晶体管逻辑(Resistor Transistor Logic,RTL)的代码使用的是Verilog语言,但是验证没有...如今芯片的功能日渐增多且愈发难以理解,运用仿真器的波形去验证设计变得越来越困难,为了缩短简化验证时间,需要提供一个标准化的验证平台。因为电阻晶体管逻辑(Resistor Transistor Logic,RTL)的代码使用的是Verilog语言,但是验证没有标准化,不能够重复利用,而UVM正好可以提供验证平台的标准化,因此目前更多选择统一验证方法学(Universal Verification Methodology,UVM)作为验证平台。安全数字输入输出卡(Secure Digital Input and Output Card,SDIO)接口在消费电子产品中的应用极为广泛,特别是在为各类移动设备提供低能耗与高速度的数据存储及应用功能方面。本研究利用UVM验证平台,专注于系统芯片(System on Chip,SoC)芯片内SDIO接口的特定功能,开发并构建了一套适配被测设备(Device Under Test,DUT)的验证平台。该平台能够生成受限制的随机测试激励,并采用覆盖率作为衡量验证进展的标准。展开更多
随着集成电路的发展,电子设备变得越来越复杂,对于通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)接口的验证来说,传统的验证方法已经无法满足需求。使用通用验证方法学(Universal Verification Methodology,UVM)验证平台可以提高验证效率,减...随着集成电路的发展,电子设备变得越来越复杂,对于通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)接口的验证来说,传统的验证方法已经无法满足需求。使用通用验证方法学(Universal Verification Methodology,UVM)验证平台可以提高验证效率,减少人工操作和误差,保证USB设备的品质和可靠性。本文介绍了一种基于UVM的USB接口验证平台设计,该平台可以对USB接口进行模块化和可重用性设计,支持自动化测试流程,测试数据的收集和分析等功能。通过应用UVM验证平台,针对USB接口传输方式对其单次传输过程进行封装并继承使用,加速USB设备的开发和测试进程,提高产品质量和生产效率。实验结果表明,与传统的验证方法相比,使用UVM验证平台可以显著提高验证效率和精度。此外,该平台还具有高可靠性和高可维护性,可广泛应用于各种USB设备的开发与生产过程中。展开更多
文摘UVM(Universal Verification Methodology)是目前集成电路验证领域中使用最广泛的验证方法学。桥接芯片在SoC(System-on-Chip)中承担着连接不同IP核(Intellectual Property core)的关键作用。如何结合具体的桥接芯片,搭建UVM验证平台,对其进行充分验证是SoC研发流程中的难点。针对桥接芯片所连接接口协议的请求与响应机制,提出一种双FIFO(First In First Out)通道的UVM验证平台,并在验证平台中实现接口协议的乱序响应,设计连接测试、错误测试、特殊测试三个方面的激励,得到的覆盖率结果表明,该平台充分验证了桥接芯片的功能,并且分析和提高了桥接芯片读写数据的性能,对SoC的研发和验证具有重要的借鉴价值。
文摘如今芯片的功能日渐增多且愈发难以理解,运用仿真器的波形去验证设计变得越来越困难,为了缩短简化验证时间,需要提供一个标准化的验证平台。因为电阻晶体管逻辑(Resistor Transistor Logic,RTL)的代码使用的是Verilog语言,但是验证没有标准化,不能够重复利用,而UVM正好可以提供验证平台的标准化,因此目前更多选择统一验证方法学(Universal Verification Methodology,UVM)作为验证平台。安全数字输入输出卡(Secure Digital Input and Output Card,SDIO)接口在消费电子产品中的应用极为广泛,特别是在为各类移动设备提供低能耗与高速度的数据存储及应用功能方面。本研究利用UVM验证平台,专注于系统芯片(System on Chip,SoC)芯片内SDIO接口的特定功能,开发并构建了一套适配被测设备(Device Under Test,DUT)的验证平台。该平台能够生成受限制的随机测试激励,并采用覆盖率作为衡量验证进展的标准。
文摘随着集成电路的发展,电子设备变得越来越复杂,对于通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)接口的验证来说,传统的验证方法已经无法满足需求。使用通用验证方法学(Universal Verification Methodology,UVM)验证平台可以提高验证效率,减少人工操作和误差,保证USB设备的品质和可靠性。本文介绍了一种基于UVM的USB接口验证平台设计,该平台可以对USB接口进行模块化和可重用性设计,支持自动化测试流程,测试数据的收集和分析等功能。通过应用UVM验证平台,针对USB接口传输方式对其单次传输过程进行封装并继承使用,加速USB设备的开发和测试进程,提高产品质量和生产效率。实验结果表明,与传统的验证方法相比,使用UVM验证平台可以显著提高验证效率和精度。此外,该平台还具有高可靠性和高可维护性,可广泛应用于各种USB设备的开发与生产过程中。
