本文提出了一种基于晶体管-晶体管逻辑(Transistor-Transistor Logic,TTL)协议的集成电路系统级测试系统,旨在解决复杂芯片测试中测试环境搭建及与分选机通讯的难题,同时满足市面上高端、特殊的集成电路测试专属化的需求。该系统由接口...本文提出了一种基于晶体管-晶体管逻辑(Transistor-Transistor Logic,TTL)协议的集成电路系统级测试系统,旨在解决复杂芯片测试中测试环境搭建及与分选机通讯的难题,同时满足市面上高端、特殊的集成电路测试专属化的需求。该系统由接口模块、电源模块、待测芯片连接模块、测试选择模块以及显示模块协同工作,实现了对多种集成电路的灵活测试,其工作流程为:①测试系统先向分选机发送开始测试信号,分选机将待测芯片从入料盘取出置入测试座中;②通过与测试系统通讯启动测试,测试系统对待测芯片进行测试并将测试结果发送至分选机端;③分选机根据测试系统反馈的结果将芯片放入不同的下料盘,完成芯片的良品与不良品分选。该集成电路系统级测试系统,突破了传统自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)测试的限制,确保芯片在实际应用场景中与其他硬件、软件协同工作时的稳定性,显著提升了测试的灵活性与准确性。展开更多
文摘本文提出了一种基于晶体管-晶体管逻辑(Transistor-Transistor Logic,TTL)协议的集成电路系统级测试系统,旨在解决复杂芯片测试中测试环境搭建及与分选机通讯的难题,同时满足市面上高端、特殊的集成电路测试专属化的需求。该系统由接口模块、电源模块、待测芯片连接模块、测试选择模块以及显示模块协同工作,实现了对多种集成电路的灵活测试,其工作流程为:①测试系统先向分选机发送开始测试信号,分选机将待测芯片从入料盘取出置入测试座中;②通过与测试系统通讯启动测试,测试系统对待测芯片进行测试并将测试结果发送至分选机端;③分选机根据测试系统反馈的结果将芯片放入不同的下料盘,完成芯片的良品与不良品分选。该集成电路系统级测试系统,突破了传统自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)测试的限制,确保芯片在实际应用场景中与其他硬件、软件协同工作时的稳定性,显著提升了测试的灵活性与准确性。
