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题名THS4271集成电路实验特性及其应用
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作者
彭玉峰
金龙
林思宏
赵越
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机构
河南师范大学物理与信息工程学院
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出处
《电子设计工程》
2012年第8期160-162,170,共4页
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文摘
以TI公司生产的集成运放THS4271为基础搭建实验测试电路,在定义的条件下实验,分别测量了运放的输入失调电压UIO,输入失调电流IIO,共模抑制比CMRR,开环差模放大倍数AUd等主要参数。同时对测量的数据对应的相应的参数进行了简单分析。基于THS4271的单位增益稳定,低失真,高压摆率等特性,举出几个应用实例,来说明其在某些工程领域有一定的应用价值,供今后的使用者参考。
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关键词
ths4271
集成运放
实验
应用
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Keywords
ths4271
integrated circuit
experiment
application
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分类号
TN495
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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