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H原子和SiH2Cl2抽提反应的理论研究 被引量:1
1
作者 张庆竹 张苗 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2001年第8期1246-1252,共7页
对H+SiH2Cl2反应进行了详细的理论研究,理论证明了抽提氢的通道是唯一可行的反应通道,并在从头算给出的电子结构信息基础上,用应分过渡态理论(CVT)加小曲率隧道效应校正(SCT)等方法对该反应进行了直接的动力学研究,得到该反应... 对H+SiH2Cl2反应进行了详细的理论研究,理论证明了抽提氢的通道是唯一可行的反应通道,并在从头算给出的电子结构信息基础上,用应分过渡态理论(CVT)加小曲率隧道效应校正(SCT)等方法对该反应进行了直接的动力学研究,得到该反应的理论速率常数,并详细讨论了各动力学参数沿反应坐标的变化,在较宽的温度范围内,反应速率常数表现出非Arrhenius行为,用三参数公式拟合了速-温关系式,为k(T)=(1.32×10^-22)T^3.67exp(-26/T),理论计算的速率常数与实验数值符合得很好。 展开更多
关键词 二氯硅烷 抽提反应 变分过渡态 氢原子 sih2Cl2 动力学 反应通道
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用SiH2Cl2进行低温外延生长
2
作者 王向武 赵仲庸 《半导体杂志》 1992年第1期5-7,14,共4页
关键词 sih2Cl2 低温外延 外延生长
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SiH和SiH2分子的结构与势能函数 被引量:5
3
作者 冯兴 王红艳 +1 位作者 朱正和 杨向东 《四川大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期375-378,共4页
应用二次组态相关(QCISD)方法,采用D95(3df,3pd)基组对SiH分子和SiH2分子的结构进行优化,得到了它们的平衡几何构型和谐振频率.采用最小二乘法拟合出SiH分子的Murrell-Sorbie势能函数,在此基础上导出光谱数据和力常数;并通过多体展式理... 应用二次组态相关(QCISD)方法,采用D95(3df,3pd)基组对SiH分子和SiH2分子的结构进行优化,得到了它们的平衡几何构型和谐振频率.采用最小二乘法拟合出SiH分子的Murrell-Sorbie势能函数,在此基础上导出光谱数据和力常数;并通过多体展式理论导出SiH2分子的势能函数,正确地反应了其平衡构型特征. 展开更多
关键词 sih2 势能函数 二次组态相互作用方法 多体展式理论
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SiH_2自由基与HNCO反应机理的理论研究 被引量:5
4
作者 耿志远 韩彦霞 +4 位作者 王永成 梁俊玺 闫盆吉 姚琨 贾宝丽 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2007年第24期2839-2846,共8页
采用密度泛函理论B3LYP方法研究了SiH2自由基与HNCO的反应机理,并在B3LYP/6-311++G**水平上对反应物、中间体、过渡态进行了全几何参数优化,通过频率分析和内禀反应坐标(IRC)确定了中间体和过渡态.为了得到更精确的能量值,又用QCISD(T)/... 采用密度泛函理论B3LYP方法研究了SiH2自由基与HNCO的反应机理,并在B3LYP/6-311++G**水平上对反应物、中间体、过渡态进行了全几何参数优化,通过频率分析和内禀反应坐标(IRC)确定了中间体和过渡态.为了得到更精确的能量值,又用QCISD(T)/6-311++G**方法计算了在B3LYP/6-311++G**水平优化后的各个驻点的相对能量.计算结果表明SiH2自由基与HNCO的反应有五条反应通道,其中顺式反应通道SiH2+HNCO→IM3→TS4→IM5→TS5→IM6→SiH2NH+CO反应能垒最低,为主反应通道. 展开更多
关键词 sih2自由基 HNCO 反应机理 活化能 过渡态
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a-Si:H基薄膜中SiH及SiH_2键构成对n型直拉单晶硅片钝化效果的影响研究 被引量:2
5
作者 何玉平 黄海宾 +1 位作者 龚洪勇 周浪 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第8期970-974,共5页
n型单晶硅表面本征非晶硅基薄膜(a-Si∶H)的钝化作用是高效率非晶硅/晶体硅异质结太阳电池的关键。本文采用掺氧和热处理的方式改变本征非晶硅基薄膜(a-Si∶H)样品中SiH和SiH2键构成,利用Sinton WCT-120少子寿命测试仪及傅里叶红外... n型单晶硅表面本征非晶硅基薄膜(a-Si∶H)的钝化作用是高效率非晶硅/晶体硅异质结太阳电池的关键。本文采用掺氧和热处理的方式改变本征非晶硅基薄膜(a-Si∶H)样品中SiH和SiH2键构成,利用Sinton WCT-120少子寿命测试仪及傅里叶红外光谱测试仪分析样品性能,研究SiH和SiH2键构成对n型直拉单晶硅片(n-Cz-Si)表面钝化效果的影响。结果表明:1掺氧和热处理均会增加a-Si∶H中SiH2键相对于SiH键的比例;2在200-350℃范围内,随着热处理温度的升高,薄膜中SiH2键相对于SiH键的比例增加,薄膜对n-Cz-Si的钝化效果先变好,在275℃时达到极值后变差;3a-Si∶H薄膜中SiH2键和SiH键的相对含量对n-Cz-Si表面的钝化效果有直接的影响,根据实验结果,SiH2与SiH键相对含量在一定范围时钝化效果最好,过高或过低均不利于钝化。 展开更多
关键词 掺氧 热处理 本征非晶硅薄膜 钝化 SiH键 sih2
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SiH_2和SiF_2分子的结构与热力学性质 被引量:4
6
作者 江文世 朱静平 《四川师范大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2010年第4期519-522,共4页
用密度泛函理论在B3LYP/6-311+G(3d2f)水平上计算研究SiH2和SiF2基态分子的结构与热力学性质,得到其热力学性质与温度的关系式和生成反应热力学性质与温度的关系.研究结果显示,SiH2分子和SiF2分子的基态均具有C2v对称性,电子态均为X1A1... 用密度泛函理论在B3LYP/6-311+G(3d2f)水平上计算研究SiH2和SiF2基态分子的结构与热力学性质,得到其热力学性质与温度的关系式和生成反应热力学性质与温度的关系.研究结果显示,SiH2分子和SiF2分子的基态均具有C2v对称性,电子态均为X1A1.气态SiH2分子不具有热力学稳定性,气态SiF2分子具有热力学稳定性. 展开更多
关键词 sih2 SiF2 B3LYP 热力学性质
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SiH_2+H_2反应的理论研究—从头算水平的热力学、动力学分析 被引量:3
7
作者 居冠之 杨玉伟 马万勇 《Chinese Journal of Chemical Physics》 SCIE CAS CSCD 1989年第1期7-13,共7页
本文用SCF ab initio方法对插入反应SiH_2(~1A_1)+H_2→SiH_4的反应物、产物及过渡态,在3-21G基组下优化出了它们的几何构型,并计算了该构型下的频率,进而计算了该反应的热焓△H。自由能AG和平衡常数K_D,计算结果指出在1500K以下该反应... 本文用SCF ab initio方法对插入反应SiH_2(~1A_1)+H_2→SiH_4的反应物、产物及过渡态,在3-21G基组下优化出了它们的几何构型,并计算了该构型下的频率,进而计算了该反应的热焓△H。自由能AG和平衡常数K_D,计算结果指出在1500K以下该反应是放热的,能自发进行,然后,用Eyring过渡态理论计算了该反应的速度常数k(T),其值与Inoue的实验结果符合得很好。 展开更多
关键词 sih2自由基 H2 热力学 动力学
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HWCVD法掺氧氢化非晶硅(a-SiO_x:H)钝化n-Cz-Si研究 被引量:1
8
作者 何玉平 袁贤 +2 位作者 刘宇 刘宁 黄海宾 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第6期519-523,共5页
HIT电池高效率核心技术之一为本征非晶硅薄膜钝化硅片。本文采用热丝化学气相沉积(HWCVD)法制备a-SiOx:H,采用SintonWCT-120少子寿命测试仪、光谱型椭偏仪及傅里叶红外光谱测试仪分析样品性能,以期获得高质量a-SiOx:H的工艺参数并分析... HIT电池高效率核心技术之一为本征非晶硅薄膜钝化硅片。本文采用热丝化学气相沉积(HWCVD)法制备a-SiOx:H,采用SintonWCT-120少子寿命测试仪、光谱型椭偏仪及傅里叶红外光谱测试仪分析样品性能,以期获得高质量a-SiOx:H的工艺参数并分析微观机理。结果表明:①随热丝电流增加,沉积a-SiO:H膜的样品少子寿命先增加后减小,22.5 A时钝化效果最好,少子寿命高达2530μs,表面复合速率降至3.6 cm/s;②本实验结果中,a-SiOx:H钝化效果明显优于a-Si:H,少子寿命最高分别为2530和547μs;③a-SiOx:H薄膜中SiH、SiH2相对含量与薄膜钝化性能无直接关联。 展开更多
关键词 a-SiOx:H 热丝化学气相沉积 少子寿命 SiH键 sih2
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SiH_2CL_2-NH_3-N_2体系LPCVD Si_3N_4薄膜因素分析 被引量:1
9
作者 谭刚 吴嘉丽 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第z1期34-37,共4页
以二氯甲硅烷和氨气分别作为低压化学气相淀积(LPCVD)氮化硅(Si3N4)薄膜的硅源和氨源,以高纯氮气为载气,在热壁型管式反应炉中反应生成Si3N4薄膜。考察了工作压力、反应温度、气体原料组成等因素对Si3N4薄膜淀积速率的影响。结果表明:Si... 以二氯甲硅烷和氨气分别作为低压化学气相淀积(LPCVD)氮化硅(Si3N4)薄膜的硅源和氨源,以高纯氮气为载气,在热壁型管式反应炉中反应生成Si3N4薄膜。考察了工作压力、反应温度、气体原料组成等因素对Si3N4薄膜淀积速率的影响。结果表明:Si3N4薄膜的生长速率随着工作压力的增大单调增大,随着原料气中氨气和二氯甲硅烷的流量之比的增大单调减小。随着反应温度的升高,淀积速率逐渐增加,在840℃附近达到最大,随后迅速降低。在适当的工艺条件下,制备的Si3N4薄膜均匀、平整。较低的薄膜淀积速率有助于提高薄膜的均匀性,降低薄膜的表面粗糙度。 展开更多
关键词 sih2CL2-NH3-N2体系 LPCVD 氮化硅薄膜 淀积速率
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多晶硅生产中SiH_2Cl_2的富集及处理方法 被引量:5
10
作者 胡小冬 刘小锋 +2 位作者 张东 贾曦 王丽 《新材料产业》 2013年第12期44-47,共4页
多晶硅是生产太阳能电池及电子元件的基础性功能材料,是光伏产业和电子工业的基石。随着光伏产业的快速发展,我国的多晶硅产能也在迅速增长。改良西门子法是目前生产多晶硅最为成熟、最主流的工艺方法,具有技术成熟、适合大规模工业... 多晶硅是生产太阳能电池及电子元件的基础性功能材料,是光伏产业和电子工业的基石。随着光伏产业的快速发展,我国的多晶硅产能也在迅速增长。改良西门子法是目前生产多晶硅最为成熟、最主流的工艺方法,具有技术成熟、适合大规模工业化生产等特点,使用改良西门子法所生产的多晶硅占当今世界多晶硅生产总量的80%左右。 展开更多
关键词 工业化生产 sih2Cl2 多晶硅 富集 光伏产业 西门子法 技术成熟 太阳能电池
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C_(70)SiH_2可能异构体的结构和稳定性的理论研究
11
作者 夏树伟 尚贞峰 +3 位作者 陈兰 潘荫明 赵学庄 唐敖庆 《南开大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2000年第1期34-41,共8页
分别用半经验的 AM1 ,PM3及 MNDO方法研究了富勒烯衍生物 C70 Si H2 的 1 2种可能异构体的结构和稳定性 .计算结果表明 :Si H2 基团加成在 4种 6-6键上的稳定构型中 ,非赤道带加成的三个异构体为闭环结构 ,赤道带加成的一个异构体为开... 分别用半经验的 AM1 ,PM3及 MNDO方法研究了富勒烯衍生物 C70 Si H2 的 1 2种可能异构体的结构和稳定性 .计算结果表明 :Si H2 基团加成在 4种 6-6键上的稳定构型中 ,非赤道带加成的三个异构体为闭环结构 ,赤道带加成的一个异构体为开环结构 :Si H2 基团加成在 4种 6-5键上均可产生开环和闭环两种稳定构型 .加成在6-5双键的异构体其闭环构型更稳定 ,加成在 6-5单键的异构体使其开环构型更稳定 .闭环异构体中 Si H2 基团加成在碳球极处 6-6键上的构型 1 ,2最稳定 ,开环异构体中 Si H2 基团加成在赤道带 6-6键上的构型 展开更多
关键词 C70sih2 富勒烯衍生物 结构 异构体 稳定性
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用SiH_2Cl_2沉积MEMS中的多晶硅薄膜研究 被引量:1
12
作者 廖勇明 董立军 +2 位作者 韩敬东 陈大鹏 叶甜春 《电子工业专用设备》 2005年第1期28-30,共3页
关键词 MEMS sih2Cl2 多晶硅薄膜 XRD 薄膜应力
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改良西门子法氯硅烷精馏系统工艺优化 被引量:3
13
作者 吴宏涛 宋亚婷 《四川化工》 CAS 2016年第6期54-57,共4页
针对多晶硅生产过程精馏提纯系统SiH_2Cl_2累积造成系统稳定性差、产品合格率低的现象,通过对粗馏、精馏及还原提纯系列塔进行生产工艺优化,实现了系统稳定高效运行。
关键词 改良西门子法 多晶硅 精馏 sih2Cl2
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富勒烯衍生物C_(50)X(X=SiH_2,PH,S)的结构及稳定性的理论研究 被引量:2
14
作者 许秀芳 尚贞锋 +1 位作者 李瑞芳 赵学庄 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第12期2413-2419,共7页
用从头算HF/3-21G方法研究了C50的环加成衍生物C50X(X=SiH2,PH,S)所有可能的异构体的结构与稳定性,计算结果表明,SiH2基团、PH基团与S原子在C50上环加成的优先加成位置相同,都为C3—C4类键和C4—C4类键,并且相应形成[5,6]-闭环和[5,5]-... 用从头算HF/3-21G方法研究了C50的环加成衍生物C50X(X=SiH2,PH,S)所有可能的异构体的结构与稳定性,计算结果表明,SiH2基团、PH基团与S原子在C50上环加成的优先加成位置相同,都为C3—C4类键和C4—C4类键,并且相应形成[5,6]-闭环和[5,5]-闭环结构的最稳定异构体;决定C50X(X=SiH2,PH,S)各异构体稳定性的主要因素,因加成位置以及发生加成反应的C—C键的单双键类型的不同,可能是张力、共轭效应或者二者的共同作用.进一步比较了C50X(X=SiH2,PH,S)与C50X(X=CH2,NH,O)的结构和稳定性等,并总结出规律性的结论,即加成原子的大小和加成位置C—C键的类型是影响形成开环或闭环结构的C50环加成衍生物的两种主要因素. 展开更多
关键词 C50环加成衍生物 结构 稳定性
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多晶硅生产中副产物SiCl_4的综合利用 被引量:11
15
作者 肖顺珍 蒋云华 《新材料产业》 2009年第7期51-56,共6页
在氯化氢(HCl)合成制备三氯氢硅(SiHCl3)过程中,除主要产品SiHCl3外,还有大约15%左右的四氧化硅(SiCl4)副产品,另外还有二氯氢硅(SiH2Cl2)等。在SiHCl3氢还原中,还伴随有SiHCl3的热分解而生成的SiCl4、SiH2Cl2和HCl等,
关键词 SiCl4 多晶硅 综合利用 副产物 sih2Cl2 生产 三氯氢硅 合成制备
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SiH(X^2Π)从头算解析势能函数和光谱常数
16
作者 赵文丽 高峰 +1 位作者 张红 曹学成 《山东农业大学学报(自然科学版)》 北大核心 2020年第1期179-184,共6页
利用多参考组态相互作用(MRCI)方法以及aug-cc-pVXZ和aug-cc-pV(X+d)Z (X=Q, 5, 6)基组计算了SiH(X2Π)双原子势能曲线(PECs),用完备基组(CBS)外推能量点修正方法把势能曲线拟合成解析势能函数(APEFs),基于APEFs计算了SiH(X^2Π)光谱常... 利用多参考组态相互作用(MRCI)方法以及aug-cc-pVXZ和aug-cc-pV(X+d)Z (X=Q, 5, 6)基组计算了SiH(X2Π)双原子势能曲线(PECs),用完备基组(CBS)外推能量点修正方法把势能曲线拟合成解析势能函数(APEFs),基于APEFs计算了SiH(X^2Π)光谱常数De,Re,ωe,βeαe和ωeχe,其结果与实验和其他理论结果表现出一致性。最后计算了SiH(X^2Π)的振动能级、经典拐点、转动常数六个离心畸变常数。 展开更多
关键词 SiH(X^2Π) 多参考组态相互作用 解析势能函数 光谱常数 振动能级
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氢化非晶硅薄膜的制备与工艺参数优化 被引量:1
17
作者 朱永航 刘一剑 +1 位作者 黄霞 黄惠良 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2016年第5期706-710,共5页
采用间接型射频等离子体增强化学气相沉积方法,通过改变H_2/SiH_4气流量比、工艺功率和工艺压强,制备出了氢化非晶硅薄膜。研究了H_2/SiH_4气流量比、工艺功率以及工艺压强对非晶硅薄膜光学特性的影响。实验结果表明,该方法可以制备出... 采用间接型射频等离子体增强化学气相沉积方法,通过改变H_2/SiH_4气流量比、工艺功率和工艺压强,制备出了氢化非晶硅薄膜。研究了H_2/SiH_4气流量比、工艺功率以及工艺压强对非晶硅薄膜光学特性的影响。实验结果表明,该方法可以制备出氢化非晶硅薄膜,且通过改变实验条件,可以改变薄膜微观结构及成分;随着H_2/SiH_4气流量比的增加,SiH化合物含量增加,多氢化合物含量降低;适当增加射频功率,可以提高薄膜表面的均匀性,同时,功率的增加会使氢含量增加;此外,薄膜表面氢含量随工艺气压的降低而减小。 展开更多
关键词 氢化非晶硅薄膜 间接型射频等离子体 微观结构 H含量 H2/SiH4气流量比 工艺功率 工艺压强
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One-Dimensional Fluid Model of Pulse Modulated Radio-Frequency SiH_4 /N_2 /O_2 Discharge
18
作者 王燕 刘相梅 +1 位作者 宋远红 王友年 《Plasma Science and Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2012年第2期107-110,共4页
Driven by pulse modulated radio-frequency plasma in capacitively coupled discharge are studied by source, the behavior of SiH4/N2/02 using a one-dimensional fluid model. Totally, 48 different species (electrons, ions... Driven by pulse modulated radio-frequency plasma in capacitively coupled discharge are studied by source, the behavior of SiH4/N2/02 using a one-dimensional fluid model. Totally, 48 different species (electrons, ions, neutrals, radicals and excited species) are involved in this simulation. Time evolution of the particle densities and electron temperature with different duty cycles are obtained, as well as the electronegativity nsiH-3 /ne of the main negative ion (Sill3 ). The results show that, by reducing the duty cycle, higher electron temperature and particle density can be achieved for the same average dissipated power, and the ion energy can also be effectively reduced, which will offer evident improvement in plasma deposition processes compared with the case of continuous wave discharge. 展开更多
关键词 pulsed modulation SiH4/N2/02 discharge capacitively coupled plasma fluidmodel
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The effects of process conditions on the plasma characteristic in radio-frequency capacitively coupled SiH_4/NH_3/N_2 plasmas: Two-dimensional simulations
19
作者 刘相梅 宋远红 +1 位作者 姜巍 易林 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2013年第4期338-343,共6页
A two-dimensional (2D) fluid model is presented to study the behavior of silicon plasma mixed with SiH4 , N2 , and NH3 in a radio-frequency capacitively coupled plasma (CCP) reactor. The plasma–wall interaction ... A two-dimensional (2D) fluid model is presented to study the behavior of silicon plasma mixed with SiH4 , N2 , and NH3 in a radio-frequency capacitively coupled plasma (CCP) reactor. The plasma–wall interaction (including the deposition) is modeled by using surface reaction coefficients. In the present paper we try to identify, by numerical simulations, the effect of variations of the process parameters on the plasma properties. It is found from our simulations that by increasing the gas pressure and the discharge gap, the electron density profile shape changes continuously from an edge-high to a center-high, thus the thin films become more uniform. Moreover, as the N2 /NH3 ratio increases from 6/13 to 10/9, the hydrogen content can be significantly decreased, without decreasing the electron density significantly. 展开更多
关键词 capacitively coupled plasma process conditions effects SiH4/NH3/N2 discharges
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