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UV and soft x-ray emission from gaseous and solid targets employing SiC detectors
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作者 Alfio TORRISI Przemysław WACHULAK Lorenzo TORRISI 《Plasma Science and Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2021年第5期147-154,共8页
A ns Nd:YAG pulsed laser has been employed to produce plasma from the interaction with a dense target,generating continuum and UV and soft x-ray emission depending on the laser parameters and target properties.The las... A ns Nd:YAG pulsed laser has been employed to produce plasma from the interaction with a dense target,generating continuum and UV and soft x-ray emission depending on the laser parameters and target properties.The laser hits solid and gaseous targets producing plasma in high vacuum,which was investigated by employing a silicon carbide detector.The two different interaction mechanisms were studied,as well as their dependence on the atomic number.The photon emission from laser-generated plasma produced by solid targets,such as boron nitride(BN)and other elements(Al,Cu,Sn and Ta)and compounds such as polyethylene,has been compared with that coming from plasma produced by irradiating different gas-puff targets based on N_(2)and other gases(Ar,Xe,Kr,SF_(6)).The experimental results demonstrated that the yields are comparable and,in both cases,increase proportionally to the target atomic number.The obtained results,focusing the attention on the advantages and drawbacks of the employed targets,are presented and discussed. 展开更多
关键词 laser-matter interaction plasma diagnostics sic detectors
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4H-SiC双极型光电晶体管电子束辐照效应
2
作者 叶思恩 黄丹阳 +2 位作者 付祥和 赵小龙 贺永宁 《强激光与粒子束》 北大核心 2025年第5期29-35,共7页
当光电晶体管偏置在5 V下,辐照前,其暗电流约为58 nA,对365 nm紫外光的响应度约为31 A/W;器件经过10 MeV电子束辐照后,暗电流的数量级下降到10-11 A,响应度下降到原来的1/8左右。辐照后,器件的响应度受偏置电压的影响明显,随着偏置电压... 当光电晶体管偏置在5 V下,辐照前,其暗电流约为58 nA,对365 nm紫外光的响应度约为31 A/W;器件经过10 MeV电子束辐照后,暗电流的数量级下降到10-11 A,响应度下降到原来的1/8左右。辐照后,器件的响应度受偏置电压的影响明显,随着偏置电压的减小而下降,当光电晶体管偏置在3 V下,响应度下降到2.25 A/W。电子束辐照还会影响紫外探测器的开关响应,使响应的总时间变长。结合光电晶体管工作时的电路模型,电子束辐照后引起光产生电流减小、晶体管增益下降和串联电阻增大是引起光电探测器紫外响应性能退化的主要原因。 展开更多
关键词 4H-sic探测器 双极型晶体管 电子束辐照 响应电流 紫外探测
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Simulation of SiC radiation detector degradation
3
作者 Hai-Li Huang Xiao-Yan Tang +3 位作者 Hui Guo Yi-Men Zhang Yu-Tian Wang Yu-Ming Zhang 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2019年第1期300-305,共6页
Simulation on the degradation of 4H-SiC Schottky detector was carried out using ISE TCAD, and the limit of the driftdiffusion analytical model was discussed. Two independent defect levels, rather than a pair of specif... Simulation on the degradation of 4H-SiC Schottky detector was carried out using ISE TCAD, and the limit of the driftdiffusion analytical model was discussed. Two independent defect levels, rather than a pair of specific carrier lifetime, were induced to describe Z1/2 defects in simulation to calculate the charge collection efficiency versus bias voltage. Comparison between our calculation and the reported experimental results shows that an acceptable agreement was achieved, proving the feasibility of regarding Z1/2 defect as two individual defect levels. Such a treatment can simplify the simulation and may help to further investigate the detector degradation. 展开更多
关键词 4H-sic detector DEGRADATION SIMULATION Z1/2 DEFECT
原文传递
基于碳化硼转换材料的SiC中子探测器研究
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作者 孙乙文 田立朝 +3 位作者 张湘 杨晓虎 徐伟立 胡佳丽 《原子能科学技术》 北大核心 2025年第4期920-925,共6页
以SiC-α探头和中子核反应转换材料^(10)B_(4)C为基础的探测器,℃是实现反应堆中子通量测量的新半导体中子探测器方案,其中转换材料的关键在于确定SiC外延层及^(10)B_(4)C转换层厚度。使用Geant4模拟了不同厚度^(10)B_(4)C涂层下热中子... 以SiC-α探头和中子核反应转换材料^(10)B_(4)C为基础的探测器,℃是实现反应堆中子通量测量的新半导体中子探测器方案,其中转换材料的关键在于确定SiC外延层及^(10)B_(4)C转换层厚度。使用Geant4模拟了不同厚度^(10)B_(4)C涂层下热中子和不同能量γ射线在SiC灵敏体积内的能谱,并对不同阈值下热中子探测效率随^(10)B_(4)C涂层厚度的变化关系进行模拟,确定了SiC外延层及^(10)B_(4)C转换层厚度值。拆卸转换层,使用^(60)Co、^(137)Cs、^(22)Na放射源以及中子源,对SiC探测器进行了γ射线探测和热中子探测实验,获得了不同层厚下SiC对热中子探测的能量沉积,得到了最佳的层厚设计,确定了筛除γ信号的合理阈值,验证了方案的可行性。 展开更多
关键词 中子探测 sic探测器 ^(10)B_(4)C Geant4蒙特卡罗模拟
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基于4H-SiC的高能量分辨率α粒子探测器 被引量:7
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作者 吴健 蒋勇 +7 位作者 甘雷 李勐 邹德慧 荣茹 鲁艺 李俊杰 范晓强 雷家荣 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第1期151-154,共4页
为突破传统半导体核探测器耐高温与抗辐照性能不足的瓶颈,采用4H-SiC宽禁带半导体材料研制了4H-SiC探测器,并研究其构成的探测系统对α粒子的能量分辨率和能量线性度。所研制4H-SiC探测器漏电流低,当外加反向偏压为200V时,其漏电流仅14.... 为突破传统半导体核探测器耐高温与抗辐照性能不足的瓶颈,采用4H-SiC宽禁带半导体材料研制了4H-SiC探测器,并研究其构成的探测系统对α粒子的能量分辨率和能量线性度。所研制4H-SiC探测器漏电流低,当外加反向偏压为200V时,其漏电流仅14.92nA/cm2。采用具有5种主要能量α粒子的226 Ra源研究其构成的探测系统对α粒子的能量分辨率,获得4H-SiC探测系统对4.8~7.7 MeV能量范围内α粒子的能量分辨率为0.61%~0.90%,与国际上报道的高分辨4H-SiC探测系统能量分辨率一致。同时,实验结果表明:4H-SiC探测系统对该能量范围内α粒子的能量线性度十分优异,线性相关系数为0.999 99。 展开更多
关键词 能量分辨率 半导体探测器 碳化硅
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Ni/4H-SiC SBD电离辐照探测器的实验研究 被引量:3
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作者 张林 肖剑 +1 位作者 邱彦章 程鸿亮 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第3期467-470,共4页
研制了Ni/4H-SiC肖特基二极管电离辐照探测器,并采用不同的辐照源进行了测试。实验结果表明,对于低能电子和射线辐照,该探测器都有比较灵敏的电流响应。经过1 Mrad(Si)的射线辐照后,探测器的信号电流没有明显退化;分别经过1 Mrad(Si)的... 研制了Ni/4H-SiC肖特基二极管电离辐照探测器,并采用不同的辐照源进行了测试。实验结果表明,对于低能电子和射线辐照,该探测器都有比较灵敏的电流响应。经过1 Mrad(Si)的射线辐照后,探测器的信号电流没有明显退化;分别经过1 Mrad(Si)的射线和100 Mrad(Si)的1 MeV电子辐照后,0 V和30 V辐照偏压下的探测器的暗电流仅有较轻微的退化。说明了该文研制的探测器具有暗电流低、灵敏度高和抗辐射容限高等优点,可以在强辐射环境中长时间应用。 展开更多
关键词 电离 辐照探测器 肖特基 碳化硅
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4H-SiC肖特基二极管γ射线探测器的模型与分析 被引量:7
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作者 张林 张义门 +3 位作者 张玉明 张书霞 汤晓燕 王悦湖 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期854-858,共5页
在研究反偏压4H-SiC肖特基二极管作为γ射线探测器工作机理的基础上建立了数值模型,模拟了不同偏压和辐照剂量率下探测器的暗电流、工作电流和灵敏度。模拟结果表明:探测器的灵敏度随反向偏压的增加而上升;对于Au/SiC肖特基二极管,有源... 在研究反偏压4H-SiC肖特基二极管作为γ射线探测器工作机理的基础上建立了数值模型,模拟了不同偏压和辐照剂量率下探测器的暗电流、工作电流和灵敏度。模拟结果表明:探测器的灵敏度随反向偏压的增加而上升;对于Au/SiC肖特基二极管,有源区掺杂数密度为2.2×1015cm-3时,0 V偏压下探测器的灵敏度为13.9×10-9C/Gy,100 V偏压下为24.5×10-9C/Gy。计算结果与实验数据符合得较好。 展开更多
关键词 4H—sic 肖特基二极管 Γ射线 探测器 数值模拟 灵敏度
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基于SiC的裂变靶室中子灵敏度标定技术 被引量:1
8
作者 陈亮 刘金良 +6 位作者 刘林月 张显鹏 张忠兵 欧阳晓平 阮金陆 金鹏 何世熠 《现代应用物理》 2018年第2期19-23,35,共6页
为实现对基于SiC探测器的裂变靶室极低中子灵敏度的准确标定,提出了利用不同的中子源分别测量中子探测效率与裂变碎片的等效平均沉积能量,再将实验结果合成得到中子灵敏度的标定方法。利用该方法,获得了SiC探测器与不同厚度^(235) U或^(... 为实现对基于SiC探测器的裂变靶室极低中子灵敏度的准确标定,提出了利用不同的中子源分别测量中子探测效率与裂变碎片的等效平均沉积能量,再将实验结果合成得到中子灵敏度的标定方法。利用该方法,获得了SiC探测器与不同厚度^(235) U或^(238) U裂变靶组成的探测系统对14.9 MeV中子的响应灵敏度,灵敏度的相对标准不确定度为7.5%(k=1),较好地满足了应用需求。与传统带屏蔽体的标定方法相比,该方法测得的中子灵敏度可标定下限拓展了1个量级以上,同时,散射本底的影响可以通过挡影锥的方法准确扣除,显著提高了标定结果的精度。 展开更多
关键词 碳化硅探测器 裂变靶室 脉冲中子探测 中子灵敏度标定
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4H-SiC肖特基二极管α探测器研究 被引量:4
9
作者 陈雨 范晓强 +5 位作者 蒋勇 吴健 白立新 柏松 陈刚 李理 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第1期57-61,共5页
碳化硅(SiC)是一种具有优良物理性能的宽禁带半导体材料,可作为探测器的优良探测介质。用241Am源5.486 MeV的α粒子研究4H-SiC肖特基二极管α探测器的能量分辨率和信号相对上升时间等特性。在真空室中,使SiC探测器暴露在α粒子下,SiC探... 碳化硅(SiC)是一种具有优良物理性能的宽禁带半导体材料,可作为探测器的优良探测介质。用241Am源5.486 MeV的α粒子研究4H-SiC肖特基二极管α探测器的能量分辨率和信号相对上升时间等特性。在真空室中,使SiC探测器暴露在α粒子下,SiC探测器输出良好的响应信号。SiC二极管对5.486 MeVα粒子的能量分辨率最佳可达3.4%;经前置放大器FH1047输出和示波器观测,脉冲幅度随偏压增加而稳定在(35.39±0.21)mV;脉冲上升时间随偏压增加而稳定在(137.87±9.44)ns。4H-SiC肖特基二极管对α粒子响应良好,可用于α粒子强度测量。结合SiC耐辐照、耐高温等特性,进一步改进后有望制成分辨率更高、上升时间更快、耐辐照的新型α探测器和中子探测器。 展开更多
关键词 α探测器 肖特基二极管 4H—sic
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金属-半导体-金属(MSM)结构4H-SiC紫外光电探测器的研制 被引量:9
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作者 吴正云 XIN Xiao-bin +1 位作者 YAN Feng ZHAO Jian-hui 《量子电子学报》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期269-272,共4页
MSM结构探测器具有结构与工艺简单、制备成本低、量子效率高等特点而在探测器应用中得到重视。本文制备了采用镍作为肖特基接触形成的MSM 4H—SiC紫外光电探测器,并测量和分析了在不同的偏压下其光电特性。结果表明,该探测器的暗电流非... MSM结构探测器具有结构与工艺简单、制备成本低、量子效率高等特点而在探测器应用中得到重视。本文制备了采用镍作为肖特基接触形成的MSM 4H—SiC紫外光电探测器,并测量和分析了在不同的偏压下其光电特性。结果表明,该探测器的暗电流非常小,在偏压为15V的时候,漏电流密度约为70 nA/cm2,光电流比暗电流高约2个数量级,其光谱响应表明,其最高光谱响应与380 nm的比值约为1000倍,说明该探测器具有良好的紫外可见比。 展开更多
关键词 MSM 紫外光电探测器 4H-sic 紫外可见比 宽禁带半导体
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SiC基中子探测器对热中子的响应 被引量:10
11
作者 陈雨 蒋勇 +6 位作者 吴健 范晓强 白立新 刘波 李勐 荣茹 邹德慧 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第10期2711-2716,共6页
以SiC二极管和中子转换材料6 LiF为基础,研制了SiC基中子探测器,并用241 Am源与临界装置分别研究了SiC基中子探测器的α粒子响应、热中子响应。结果表明:SiC基中子探测器能够满足241 Am源α粒子的计数测量,但由于SiC二极管灵敏区薄,故... 以SiC二极管和中子转换材料6 LiF为基础,研制了SiC基中子探测器,并用241 Am源与临界装置分别研究了SiC基中子探测器的α粒子响应、热中子响应。结果表明:SiC基中子探测器能够满足241 Am源α粒子的计数测量,但由于SiC二极管灵敏区薄,故不能用于5.48MeV的α粒子能谱测量;SiC基中子探测器对热中子响应良好,不同功率下,脉冲幅度谱中可清晰看到由6 Li(n,α)3 H的反应产物α粒子、3 H粒子形成的双峰;脉冲幅度甄别法可将γ射线及电子学噪声甄别掉;在直接测量与符合测量中,SiC基中子探测器的计数率均与临界装置功率成线性关系,且直接测量的线性度比符合测量的线性度好,最好可达0.999 97。研究表明:降低肖特基接触金属的厚度、增加其外延层厚度、提高其外延层品质,可将SiC二极管用于带电粒子能谱测量。 展开更多
关键词 sic二极管 a粒子探测 中子探测 半导体探测器
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基于4H-SiC肖特基二极管的中子探测器 被引量:7
12
作者 蒋勇 吴健 +8 位作者 韦建军 范晓强 陈雨 荣茹 邹德慧 李勐 柏松 陈刚 李理 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第4期664-668,共5页
针对当前极端环境下耐辐照半导体中子探测器的需求,采用耐高温、耐辐照的碳化硅宽禁带半导体材料,利用6 Li(n,α)3 H核反应原理,研制了基于4H-SiC肖特基二极管的中子探测器。利用磁控溅射完成中子转化层的制作,并用SEM表征6 LiF膜厚。... 针对当前极端环境下耐辐照半导体中子探测器的需求,采用耐高温、耐辐照的碳化硅宽禁带半导体材料,利用6 Li(n,α)3 H核反应原理,研制了基于4H-SiC肖特基二极管的中子探测器。利用磁控溅射完成中子转化层的制作,并用SEM表征6 LiF膜厚。在10~600V反向偏压下,漏电流维持在6.4nA以下,表明探测器具备良好的半导体-金属肖特基整流接触。利用241 Am源研究探测器对5.486 MeV的α粒子的响应,测得分辨率为4.5%。同时,利用该探测器测量了由临界装置产生并经石蜡块慢化后的热中子,观测到热中子与6 Li作用产生的α和T粒子信号的实验结果。 展开更多
关键词 中子探测器 宽禁带半导体 4H-sic
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4H-SiC肖特基二极管的电荷收集特性 被引量:6
13
作者 吴健 雷家荣 +3 位作者 蒋勇 陈雨 荣茹 范晓强 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第7期1793-1797,共5页
针对极端环境下耐辐照半导体核探测器的研制需求,采用耐高温、耐辐照的4H碳化硅(4H-SiC)宽禁带材料制成肖特基二极管,研究了该探测器对241 Am源α粒子的电荷收集效率。从电容-电压曲线得出该二极管外延层净掺杂数密度为1.99×1015/... 针对极端环境下耐辐照半导体核探测器的研制需求,采用耐高温、耐辐照的4H碳化硅(4H-SiC)宽禁带材料制成肖特基二极管,研究了该探测器对241 Am源α粒子的电荷收集效率。从电容-电压曲线得出该二极管外延层净掺杂数密度为1.99×1015/cm3。从正向电流-电压曲线获得该二极管肖特基势垒高度为1.66eV,理想因子为1.07,表明该探测器具备良好的热电子发射特性。在反向偏压高达700V时,该二极管未击穿,其漏电流仅为21nA,具有较高的击穿电压。在反向偏压为0~350V范围内研究了该探测器对3.5MeVα粒子电荷收集效率,在0V时为48.7%,在150V时为99.4%,表明该探测器具有良好的电荷收集特性。 展开更多
关键词 电荷收集效率 半导体探测器 宽禁带半导体 4H碳化硅
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基于SiC探测器的裂变靶探测系统中子灵敏度标定
14
作者 张显鹏 张建福 +2 位作者 易义成 刘金良 刘林月 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第10期1847-1854,共8页
在高压倍加器上,采用直流法和脉冲法分别标定了235 U和238 U靶构成的探测系统对14.9 MeV中子的灵敏度。对脉冲法的原理、方法及结果进行了介绍,并与直流法的测量结果进行了对比。结果表明:脉冲法和直流法的结果在不确定度范围内一致。... 在高压倍加器上,采用直流法和脉冲法分别标定了235 U和238 U靶构成的探测系统对14.9 MeV中子的灵敏度。对脉冲法的原理、方法及结果进行了介绍,并与直流法的测量结果进行了对比。结果表明:脉冲法和直流法的结果在不确定度范围内一致。脉冲法可在一次测量中直接扣除本底,而直流法的本底测量不准确,因此脉冲法是一种更准确的方法。本文方法可为脉冲中子源裂变探测器的相关研究提供参考。 展开更多
关键词 裂变靶探测系统 高压倍加器 sic探测器 中子灵敏度 脉冲中子
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SiC紫外光电探测器高反压下增益性能的研究 被引量:1
15
作者 黄莉敏 谢家纯 +1 位作者 梁锦 孙腾达 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2005年第4期357-359,共3页
用宽禁带半导体n4HSiC和金属Au作肖特基接触,Ti、Ni、Ag合金作背底,形成欧姆接触,研制出Au/n4HSiC肖特基紫外探测器。文章测试并分析了器件在高压下的紫外光电响应的高增益特性,反压150V下,增益可达到3.8×104。在高反压下(100V以... 用宽禁带半导体n4HSiC和金属Au作肖特基接触,Ti、Ni、Ag合金作背底,形成欧姆接触,研制出Au/n4HSiC肖特基紫外探测器。文章测试并分析了器件在高压下的紫外光电响应的高增益特性,反压150V下,增益可达到3.8×104。在高反压下(100V以上),探测器的光谱响应曲线出现了锐上升和锐截止,在260~380nm之间,有非常平稳的光谱响应;在高温533K无偏压下,紫外响应特性仍然保持良好。 展开更多
关键词 宽带隙 碳化硅 肖特基接触 光谱响应 紫外探测器
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基于4H-SiC肖特基势垒二极管的γ射线探测器 被引量:3
16
作者 杜园园 张春雷 曹学蕾 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第20期212-219,共8页
针对极端环境下耐高温和耐辐照半导体核探测器的研制需求,采用外延层厚度为100μm的4H碳化硅(4H-SiC)制备成肖特基二极管探测器,研究了该探测器对^(241)Am源γ射线的能谱响应.采用磁控溅射金属Ni制备了肖特基二极管的欧姆接触和肖特基接... 针对极端环境下耐高温和耐辐照半导体核探测器的研制需求,采用外延层厚度为100μm的4H碳化硅(4H-SiC)制备成肖特基二极管探测器,研究了该探测器对^(241)Am源γ射线的能谱响应.采用磁控溅射金属Ni制备了肖特基二极管的欧姆接触和肖特基接触,利用室温电流-电压和电容-电压测试研究了二极管的电学特性.欧姆特性测试表明,1050°C退火时,欧姆接触特性最好.从正向电流-电压曲线得出二极管肖特基势垒高度为1.617 eV,理想因子为1.127,表明探测器具备良好的热电子发射特性.从电容-电压曲线获得二极管外延层净掺杂浓度为2.903×10^(14)cm^(-3),并研究了自由载流子浓度在外延层中的纵向分布.在反向偏压为500 V时,二极管的漏电流只有2.11 nA,具有较高的击穿电压.测得在-300 V条件下,SiC二极管探测器对能量为59.5 keV的γ射线的能量分辨率为9.49%(5.65 keV). 展开更多
关键词 4H-sic 宽禁带半导体 肖特基二极管 Γ射线探测器
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SiC SAM APD紫外探测器的模拟研究
17
作者 刘丽 何志伟 《电子设计工程》 2017年第15期26-30,共5页
文中基于多种理论模型构建了4H-SiC SAM APD结构紫外光电探测器的基本物理模型。模拟研究了包括反向伏安特性、离化率、光谱响应在内的光电效应特性,并通过改变SAM结构各层厚度,得到了厚度与击穿电压、光谱响应的关系,从结果可以看出:减... 文中基于多种理论模型构建了4H-SiC SAM APD结构紫外光电探测器的基本物理模型。模拟研究了包括反向伏安特性、离化率、光谱响应在内的光电效应特性,并通过改变SAM结构各层厚度,得到了厚度与击穿电压、光谱响应的关系,从结果可以看出:减小P+层厚度、增大N、N+层厚度可有效增大光电流,提高探测器性能。 展开更多
关键词 紫外探测器 4H—sic SAM APD 模拟研究 光谱响应
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4H-SiC探测器的γ辐照影响研究 被引量:2
18
作者 李正 吴健 +6 位作者 白忠雄 吴锟霖 范义奎 蒋勇 尹延朋 谢奇林 雷家荣 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第8期111-114,共4页
为研究4H-SiC探测器的抗γ辐照性能,使用40万Ci级的60Co源对4H-SiC探测器进行了数次辐照,累积辐照剂量最大为1MGy(Si),并在辐照后对4H-SiC的性能进行了测试。随着累积辐照剂量增加,4H-SiC探测器的正向电流增大,而反向电流恰好相反;根据4... 为研究4H-SiC探测器的抗γ辐照性能,使用40万Ci级的60Co源对4H-SiC探测器进行了数次辐照,累积辐照剂量最大为1MGy(Si),并在辐照后对4H-SiC的性能进行了测试。随着累积辐照剂量增加,4H-SiC探测器的正向电流增大,而反向电流恰好相反;根据4H-SiC探测器的正向I-V曲线可提取理想因子和肖特基势垒,理想因子从1.87增加到2.18,肖特基势垒从1.93V减小至1.69V;4H-SiC探测器对241Am源产生的α粒子进行探测时,探测器的电荷收集率从95.65%退化到93.55%,测得能谱的能量分辨率由1.81%退化到2.32%。4H-SiC探测器在受到1MGy(Si)的γ辐照后,与未受到辐照时相比,在探测能量为5.486MeV的α粒子时能量分辨率和电荷收集率仅退化了28.18%和2.2%,仍具备优良的探测性能。 展开更多
关键词 4H-sic探测器 Γ辐照 I-V特性 α探测器
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高温下4H-SIC α探测器的性能研究 被引量:2
19
作者 李正 雷家荣 +6 位作者 范义奎 吴锟霖 蒋勇 白忠雄 高辉 鲁艺 吴健 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2018年第6期805-810,共6页
制成了基于4H碳化硅(4H-SiC)二极管的4H-SIC探测器,研究了室温~200℃下该探测器的IV特性,同时研究了该温度范围内4H-S1C探测器对α粒子的探测性能,获得了该探测器测得的α能谱及其半高宽和能量分辨率随温度变化的规律。探测器的正向电... 制成了基于4H碳化硅(4H-SiC)二极管的4H-SIC探测器,研究了室温~200℃下该探测器的IV特性,同时研究了该温度范围内4H-S1C探测器对α粒子的探测性能,获得了该探测器测得的α能谱及其半高宽和能量分辨率随温度变化的规律。探测器的正向电流值随着温度上升而逐渐增大,开启电压逐渐减小;当反向偏压一定时,在温度大于100℃时探测器的漏电流随温度迅速增加。但在温度为200℃和反向偏压为70V的条件下,探测器的漏电流仅为190nA.在室温~200℃范围内,4H-SiC探测器均具备α粒子探测能力。所得能谱的峰值随温度增加而增大,变化幅度相对于峰值小于1%;环境温度为200℃时,探测器的能量分辨率可达1.86%。本研究结果表明,4H-SiCα探测器具有良好的耐高温能力。 展开更多
关键词 4H-sic探测器 高温 漏电流 能谱 能量分辨率
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4H-SiC探测器对强激光等离子体下反应产物的测量 被引量:1
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作者 浮海娟 王林军 +7 位作者 王宏伟 曹喜光 刘龙祥 范功涛 马余刚 薛韩 张岳 胡新荣 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2019年第2期54-59,共6页
研制了一款采用PCB(Printed Circuit Board)板封装、直接信号波形采样引出、用于激光等离子体飞行时间测量的4H-SiC探测器,探测器灵敏面积5 mm×5 mm,灵敏层厚度80μm,全耗尽电压为350~600 V。利用标准α源和强激光反应产物对4H-Si... 研制了一款采用PCB(Printed Circuit Board)板封装、直接信号波形采样引出、用于激光等离子体飞行时间测量的4H-SiC探测器,探测器灵敏面积5 mm×5 mm,灵敏层厚度80μm,全耗尽电压为350~600 V。利用标准α源和强激光反应产物对4H-SiC的性能进行了测试:标准α源(^(228)Th,^(226)Ra)的能量刻度表明,4H-SiC探测器具有良好的能量线性响应,能量分辨率达到1.19%@7 666.75 keV,具有2~3 ns的快时间响应和飞行时间离子甄别的功能,是用于强激光等离子体反应产物的离子诊断和能量测量的有力工具。 展开更多
关键词 4H-sic探测器 波形采样器 能量分辨 飞行时间
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